权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

Protection Strategies for Configuration Information of SRAM-based FPGA against Soft Errors at Advanced Process Node for Space Applications

基于SRAM的FPGA配置信息在空间应用先进工艺节点上针对软错误的保护策略

基本信息

批准号：
21K17721
负责人：
廖望
金额：
$ 2.91万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2021
资助国家：
日本
起止时间：
2021-04-01 至 2024-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-21K17721/
关键词：
FPGA ソフトエラー宇宙応用信頼性設計回路設計

项目摘要

本研究の目的は、回路の時間および空間的な冗長化設計と構成情報訂正を組み合わせた構成情報保護技術を提案することで、回路構成情報メモリ（SRAM）で放射線によって生じるソフトエラーの影響を軽減し、宇宙環境での最先端商用FPGAの応用を加速することである。本研究の目的を達成するため、令和4年度は前年度の成果に基づき、回路冗長性と故障率のモデリング方法に加えて、時間冗長性を増やす回路設計方法を検討した。回路の時間冗長性と故障率のモデリング方法について、測定対象の計算回路に対してクロック周波数を等価的に減らせるクロックゲーティング(clock gating)手法を用いることで、計算回路の時間冗長性を変更しながら故障率を測定できるようにした。提案した方法を検証するため、照射実験を行い、冗長性の増加による故障率の軽減を観測した。また、測定対象を増やすため、量子計算補助回路等も実装した。さらに、回路中の各パスや基本セル間の冗長性の差を評価するため、冗長性を精確に分析できるトレーサー(tracer)回路の構築をすすめた。冗長性を増やす回路設計について、前年度の試みにより保護回路の遅延が大きいことが判明したため、計算回路の冗長性を増やす既定路線から変更し、構成メモリのビット反転を高速に検出する検出回路の設計に取り組んだ。検出回路により、ビット反転が発生する場合に保護対象となる計算回路の動作を中止させ、エラー伝搬を遮断して計算回路の訂正冗長性を増やす設計もすすめた。

The purpose of this study is to reduce the impact of radiation on the design of loop time and space and to accelerate the use of the most advanced commercial FPGA in the universe. The objectives of this study were achieved in 2010, 2011 and 2012, and the results of previous years were discussed in terms of baseline, loop redundancy, failure rate, and loop design methods. The time complexity of the loop and the failure rate of the loop are measured in the calculation loop of the measurement object. The time complexity of the calculation loop is measured in the calculation loop of the measurement object. The proposed method is to test and verify the performance of the system, increase the verbosity, and reduce the failure rate. The measurement of the image, quantum computing and other auxiliary circuits The difference between the verbosity of each component in the loop is evaluated, and the verbosity is accurately analyzed. Long circuit design, previous year's test, protection circuit delay, identification, calculation of long circuit design, design of long circuit design, construction of long circuit design, high speed test. The operation of the calculation loop shall be suspended, interrupted, and the correction redundancy of the calculation loop shall be increased when the protection object is generated.