システムLSIに対するテスト効率化手法に関する研究

系统LSI效率测试方法研究

• 批准号: 14780228
• 负责人: 梶原 誠司
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2002
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2002 至 2004
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-14780228/
• 关键词: テストパターン圧縮; テストパターン生成; 多重スキャン設計; 低消費電力テスト; ハフマン符号; システムLSIのテスト; 論理回路; テストコスト削減

1.テストデータ中のドントケア識別法の改良一旦生成されたテストパターン中の特定ビットにおけるドントケア(X)の判定法を提案した.テスト時の消費電力やテストデータ量削減を目的にXの再割当を考えたとき,テストパターン中のXには,各目的に対して有効なものとないものがある.提案手法は,各目的に対して有効なビットにできるだけ多くのXを判定する.実験では,従来手法と比較して,特定ビット上で識別できるXが増加することを示した.2.バウンダリスキャン設計に対するテストデータ量削減手法の開発バウンダリスキャン設計が導入されたLSIを対象に,ハフマン符号を利用したテストデータ圧縮手法を開発した.提案手法はまず,テストベクトルを構成する入力値のうち不定値に変えても故障検出率が下がらないものを判定し,次に,不定値に,統計的符号化の効果を最大にするような論理値を割り当てる.実験では,テストデータ量を元のテストデータの25%以下にまで減らすことを示した.3.多重スキャン設計に対するテストデータ量削減手法の開発多重スキャン方式の設計を対象に,スキャン入力ピン数の削減によるテストデータ削減法を開発した.テスト用スキャンの入力ベクトルの種類を限定するよう,テストデータ中のドントケアに論理値を割り当てるアルゴリズムを考案した.入力ピン数で20〜70%の削減,圧縮率40〜60%を達成した.4.テスト時の平均消費電力削減手法の開発テスト動作時には,通常動作時と比べて消費電力が約2倍となることが知られている.与えられたテストパターンに対して,テスト動作時の消費電力を約40%削減するテストパターン変換法を開発した.

1.Improvement of the identification method of テストデータ中のドントケア once generated されたテストパターン中のspecific code Proposal for the Judgment Method for Tobacco (X). To reduce the power consumption during the time period, the purpose is to reduce the amount of electricity consumed. Xのre-cut when it is doneある. Proposal method は, each purpose is effective なビットにできるだけ多くのXをdetermination する.実験では,従Come to the method of comparison, specific identification of the upper part of the codeャン Designに対するテストデータQuantity Reduction Techniqueの开発バウンダリスキャン Designが ImportされたLSIを対Elephant, ハフマン symbol をutilization したテストデータ姧 shrinking technique を开発した. Proposal technique はまず, テストベクトルを constitutes する入力値のうちuncertain 値に変えてもFault 検Out rateが下がらないものをdeterminationし,timesに,uncertain値に, the symbolic effect of statistics is the maximum valueを元のテストデータの25% or less にまで minus らすことをshow した. 3. Multiple スキャン design に対するテストデータの开発multipleスキャンmethodのDesignを対 elephantに,スキャン入力ピンnumberの reduceによるテストデータ Cutting method を开発した.テスト Use スキャンの enter force ベクトルのkind をLimited するよう, テストデータ中のドントケアに论夤を Cutり当てるアルゴリズムを开户した. Enter the force of the number で 20~70 % reduction, the compression rate of 40 to 60% has been achieved. 4. The average power consumption reduction method of the time is opened When operating, the power consumption during normal operation is about 2 times higher than when operating. The power consumption of the ターンに対して and the テスト action is reduced by about 40%.

项目成果

S.Kajihara, K.Taniguchi, K.Miyase, I.Pomeranz, et al.: "Test Data Compression Using Don't Care Identification and Statistical Encoding"Proceedings of 11th IEEE Asian Test Symposium. 67-72 (2002)

S.Kajihara、K.Taniguchi、K.Miyase、I.Pomeranz 等人：“使用无关识别和统计编码进行测试数据压缩”第 11 届 IEEE 亚洲测试研讨会论文集。

S.M Reddy, K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz: "On Test Data Volume Reduction for Multiple Scan Chain Designs"Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium. 103-108 (2002)

S.M Reddy、K.Miyase、S.Kajihara、I.Pomeranz：“论多扫描链设计的测试数据量减少”IEEE VLSI 测试研讨会论文集。

S.Kajihara, K.Ishida, K.Miyase: "Average Power Reduction in Scan Testing by Test Vector Modification"IEICE Trans.on Information and Systems. Vol.E85-D, No.10. 1483-1489 (2002)

S.Kajihara、K.Ishida、K.Miyase：“通过测试矢量修改降低扫描测试中的平均功率”IEICE Trans.on 信息和系统。

K.Ichino, T.Asakawa, S.Fukumoto, K.Iawasaki, S.Kajihara: "Hybrid BIST Design for n-Detection Test Using Partially Rotational Scan"IEICE Trans.on Information and Systems. Vol.E85-D, No.10. 1490-1497 (2002)

K.Ichino、T.Asakawa、S.Fukumoto、K.Iawasaki、S.Kajihara：“使用部分旋转扫描进行 n 检测测试的混合 BIST 设计”IEICE Trans.on 信息和系统。

K.Miyase, S.Kajihara, S.M Reddy: "A Method of Static Test Compaction Based on Don't Care Identification"情報処理学会論文誌. Vol.43, No.5. 1290-1293 (2002)

K. Miyase、S. Kajihara、S. M Reddy：“基于无关识别的静态测试压实方法”，日本信息处理学会会刊，第 43 卷，第 1290-1293 期（2002 年）。 ）