組合せ論理回路のテスト集合の圧縮手法に関する研究

组合逻辑电路测试集压缩方法研究

• 批准号: 05780252
• 负责人: 梶原 誠司
• 金额: $ 0.58万
• 依托单位: Osaka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1993
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1993 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-05780252/
• 关键词: テストパターン生成; 組合せ回路; 縮退故障; テストパターン圧縮; 独立故障集合

組合せ論理回路の単一縮退故障に対するテストパターン集合(テスト集合)を求める問題は,故障の検出可能性の判定を効率化するアルゴリズムの発展により,高速化が可能になってきた.その一方で,回路が大規模になるに従い,生成されるテスト集合の大きさが問題となってきている.本研究では,まず,1万ゲートを越えるような大規模回路に対して,現実的な計算時間で回路のテストサイズの下界を求める手法について考察した.大きなテストサイズの下界を見つけることにより,それらの情報を小さなテスト集合の生成に役立てることができ,得られたテスト集合の大きさを評価することが可能となる.次に,与えられた回路に対して,小さなテスト集合を生成する手法を提案した.提案手法に含まれる二重検出法により,得られたテスト集合に含まれるすべての不必要なテストベクトルを識別できるため,そのテスト集合を常に極小にすることができる.また,これまでに提案されている手法も改良することで,その効果をより高めることができる.これらの手法をプログラム化し,ベンチマーク回路を用いて実験した結果,与えられた回路に対する最小か最小に近い大きさのテスト集合を得ることができた.また,本手法により生成された圧縮テスト集合は多重縮退故障のテストパターンを生成する時にも有効であることを示すことができた.更に,圧縮テスト集合の生成と冗長除去による回路簡単化を同時に行う手法を提案し,目的のことなるこれら二つの処理を効果的に行うことができることを示した.

The combination of the fault control loop system, the fault diagnosis system, the fault diagnosis collection (the fault collection), the failure probability set, the fault probability set, the failure probability set, the fault probability set, the fault probability set, the failure probability set, the fault probability set, the failure probability set, the fault probability set, the failure probability set, the fault probability set, the On the other hand, the circuit has a large-scale operation and generates a collection of real-time data. The purpose of this study is to evaluate the performance of the large-scale model loop in this study. in this study, the calculation of the calculation time of the large-scale model loop, the lower bound of the operating system, the lower bound of the operating system, and the lower bound of the operating system are required in this study. in this study, 10, 000 people are required to evaluate the performance of large-scale model loop. This is the first time that the collection has been generated in the first place, and that the collection has been generated in the first place. For the second time, it is the same as that of the loop circuit, the collection of the circuit, the collection of the device and the proposal. If the method of the proposal contains a double order, the collection of information may contain information that is not necessary. Do not need to know that they are not necessary. I don't know, I don't know what to do. In order to improve the performance of the loop, we have to use the results of the loop, and we can get the results from the collection of the minimum and minimum loops. In this method, the collection of multiple fallback failures is generated, and there is an error message that is displayed at the time when it is generated. More importantly, the collection of data sets generates a proposal for the simultaneous operation of the transmission loop. The purpose of this is to improve the performance of the system.

项目成果

Seiji Kajihara: "Test Generation for Multiple Faults Based on Parallel Vector Pair Analysis" Proceedings of International Conference on Computer-Aided Design-93. 436-439 (1993)

Seiji Kajihara：“基于并行向量对分析的多故障测试生成”计算机辅助设计国际会议记录 - 93。

梶原誠司: "非冗長回路と極小テスト集合の同時生成について" 情報処理理学会DAシンポジウム'93. 109-112 (1993)

Seiji Kajiwara：“关于非冗余电路和最小测试集的同时生成”日本信息处理协会 DA 研讨会 93（1993）。

Seiji Kajihara: "Cost-Effective Generation of Minimal Test Sets for Stuck-at Faults in Combinational Logic Circuits" Proceedings of the 30th Design Automation Conference. 102-106 (1993)

Seiji Kajihara：第 30 届设计自动化会议论文集“经济高效地生成组合逻辑电路中固定故障的最小测试集”。

Yoshinobu Higami: "Test Sequence Generation for Sequential Circuits with distinguishing Sequences" IEICE Transaction on Fundmentals. Vol.E76-A. 1730-1737 (1993)

Yoshinobu Higami：“具有区分序列的时序电路的测试序列生成”IEICE 基础知识交易。