Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation
基于现场运行自适应测试的 VLSI 预防性安全
基本信息
- 批准号:18KT0014
- 负责人:
- 金额:$ 11.81万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2018
- 资助国家:日本
- 起止时间:2018-07-18 至 2023-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
LSI の微細化技術の発展とともに LSI の劣化に起因する遅延増加及びシステム障害が懸念されている.これまでの研究で,フィールドで回路遅延を測定し,その結果に基づいた劣化の把握と遅延増加の予測モデル生成手法を開発してきた.一方で,故障を未然に防ぐには,誤動作を生じる時期の予測に基づき事前に警告することが望まれる.本研究では,遅延予測モデルとフィールドでの実際の回路遅延の差が生じる要因を考察し,その要因を考慮した回路寿命や故障発生の警告タイミングを決定する手法を提案する.また,劣化加速試験により得られた回路遅延の測定値を用いて提案手法の検証を行う.本研究において,事前の回路シミュレーションやオンチップ遅延測定によって得られた回路遅延の実測値から,機械学習により生成する将来の回路遅延の予測モデルを用いる.この遅延予測モデルで計算される遅延値は,フィールドでの実際の回路遅延値から誤差がある.提案手法では,その誤差要因を(1) 予測手法の精度,(2) 環境変動による影響 (3) 使用データの誤差の3要因に分けて,それぞれ解析する.提案手法の検証のために,試作チップ2 枚分の劣化加速試験により得られた遅延測定の測定値を用いて,警告を行うタイミングを算出した.劣化加速時間は 168h,ストレス条件は2.4V(標準 1.2V),85℃(標準 60℃),ユーザーの猶予期間は 30日とした.その結果,警告タイミングは稼働から11686日後と算出され,環境変動による影響全体のマージンの約98%と大部分を占め, 使用データの誤差が2%程度であることが判明した.
The development of LSI miniaturization technology and the causes of LSI degradation are discussed. This research is aimed at determining the loop delay and developing the prediction method for loop generation based on the determination of the loop delay. In one case, failure prevention, malfunction prevention, prediction, warning, and anticipation. This study is to investigate the main causes of delay prediction and to propose a method for determining the circuit life and the warning of fault occurrence. The degradation acceleration test was performed to determine the loop delay. In this study, prior loop delay measurement was performed to obtain the actual value of loop delay, and mechanical learning was performed to generate future loop delay prediction. The delay value of the delay prediction is calculated. The delay value of the loop is calculated. The error of the loop delay value is calculated. The main causes of error in the proposed method are (1) the accuracy of the prediction method,(2) the influence of environmental changes,(3) the analysis of the three main causes of error in the use of data. The proposed method of identification and test, try to make 2 points of degradation acceleration test, get the delay test value, use the warning line, calculate the time. The degradation acceleration time is 168h, the temperature is 2.4V(standard 1.2V), 85℃(standard 60℃), and the degradation time is 30 days. The result is that the environmental change affects 98% of the total population, and the error in use is 2%.
项目成果
期刊论文数量(27)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法
考虑片上延迟测量中的制造变化的温度-电压效应的校正方法
- DOI:
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:加藤隆明;三宅庸資; 梶原誠司
- 通讯作者:梶原誠司
論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
关于逻辑BIST测试功率控制方法和TEG评估
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:加藤隆明;王 森レイ;佐藤康夫;梶原誠司
- 通讯作者:梶原誠司
メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
根据存储器大小和形状识别逻辑部件中高功耗区域的研究
- DOI:
- 发表时间:2020
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:高藤大輝;星野龍;宮瀬紘平;温暁青;梶原誠司
- 通讯作者:梶原誠司
Good die prediction modelling from limited test items
从有限的测试项目中建立良好的模具预测模型
- DOI:10.1109/itc-asia.2018.00030
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:98.Takeru Nishimi;Yasuo Sato;Seiji kajihara;Yoshiyuki Nakamura
- 通讯作者:Yoshiyuki Nakamura
オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について
关于片上延迟测量中温度和电压影响的校正方法
- DOI:
- 发表时间:2020
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:加藤 隆明;三宅 庸資;梶原 誠司
- 通讯作者:梶原 誠司
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梶原 誠司其他文献
「ドイツにおける多国間主義と欧州懐疑主義の相克」
“德国多边主义与欧洲怀疑主义之间的冲突”
- DOI:
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中村登志哉
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书评:“探索民主的‘文化理论’:Toshio Ochi,“什么是政治的文化?”(Minerva Shobo,2018)
- DOI:
- 发表时间:
2020 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
加藤 隆明;三宅 庸資;梶原 誠司;辻康夫 - 通讯作者:
辻康夫
素材と社会:資源利用の変遷、創出される価値 Materials and Society: Resource Use Transition and Created Value
材料与社会:资源利用转变和创造价值
- DOI:
- 发表时间:
2020 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
加藤 隆明;三宅 庸資;梶原 誠司;辻康夫;中島謙一 - 通讯作者:
中島謙一
Scratchプログラミング学習におけるコンピュテーショナル・シンキングスキルの習熟過程の分析
Scratch编程学习中计算思维技能的学习过程分析
- DOI:
- 发表时间:
2020 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
加藤 隆明;三宅 庸資;梶原 誠司;辻康夫;中島謙一;安東亮汰,伊原彰紀 - 通讯作者:
安東亮汰,伊原彰紀
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システムLSIに対するテスト効率化手法に関する研究
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- 批准号:
14780228 - 财政年份:2002
- 资助金额:
$ 11.81万 - 项目类别:
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設計者のための統合型VLSIテスト環境の開発
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