课题基金 / 基金详情

Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation

Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation
基于现场运行自适应测试的 VLSI 预防性安全
批准号:
18KT0014
负责人:
梶原 誠司
金额:
$11.81万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2018
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2018-07-18 至 2023-03-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
LSI の微細化技術の発展とともに LSI の劣化に起因する遅延増加及びシステム障害が懸念されている.これまでの研究で,フィールドで回路遅延を測定し,その結果に基づいた劣化の把握と遅延増加の予測モデル生成手法を開発してきた.一方で,故障を未然に防ぐには,誤動作を生じる時期の予測に基づき事前に警告することが望まれる.本研究では,遅延予測モデルとフィールドでの実際の回路遅延の差が生じる要因を考察し,その要因を考慮した回路寿命や故障発生の警告タイミングを決定する手法を提案する.また,劣化加速試験により得られた回路遅延の測定値を用いて提案手法の検証を行う.本研究において,事前の回路シミュレーションやオンチップ遅延測定によって得られた回路遅延の実測値から,機械学習により生成する将来の回路遅延の予測モデルを用いる.この遅延予測モデルで計算される遅延値は,フィールドでの実際の回路遅延値から誤差がある.提案手法では,その誤差要因を(1) 予測手法の精度,(2) 環境変動による影響 (3) 使用データの誤差の3要因に分けて,それぞれ解析する.提案手法の検証のために,試作チップ2 枚分の劣化加速試験により得られた遅延測定の測定値を用いて,警告を行うタイミングを算出した.劣化加速時間は 168h,ストレス条件は2.4V(標準 1.2V),85℃(標準 60℃),ユーザーの猶予期間は 30日とした.その結果,警告タイミングは稼働から11686日後と算出され,環境変動による影響全体のマージンの約98%と大部分を占め, 使用データの誤差が2%程度であることが判明した.
英文摘要
LSI の微細化技術の発展とともに LSI の劣化に起因する遅延増加及びシステム障害が懸念されている.これまでの研究で,フィールドで回路遅延を測定し,その結果に基づいた劣化の把握と遅延増加の予測モデル生成手法を開発してきた.一方で,故障を未然に防ぐには,誤動作を生じる時期の予測に基づき事前に警告することが望まれる.本研究では,遅延予測モデルとフィールドでの実際の回路遅延の差が生じる要因を考察し,その要因を考慮した回路寿命や故障発生の警告タイミングを決定する手法を提案する.また,劣化加速試験により得られた回路遅延の測定値を用いて提案手法の検証を行う.本研究において,事前の回路シミュレーションやオンチップ遅延測定によって得られた回路遅延の実測値から,機械学習により生成する将来の回路遅延の予測モデルを用いる.この遅延予測モデルで計算される遅延値は,フィールドでの実際の回路遅延値から誤差がある.提案手法では,その誤差要因を(1) 予測手法の精度,(2) 環境変動による影響 (3) 使用データの誤差の3要因に分けて,それぞれ解析する.提案手法の検証のために,試作チップ2 枚分の劣化加速試験により得られた遅延測定の測定値を用いて,警告を行うタイミングを算出した.劣化加速時間は 168h,ストレス条件は2.4V(標準 1.2V),85℃(標準 60℃),ユーザーの猶予期間は 30日とした.その結果,警告タイミングは稼働から11686日後と算出され,環境変動による影響全体のマージンの約98%と大部分を占め, 使用データの誤差が2%程度であることが判明した.
期刊论文(27)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
オンチップ遅延測定における製造バラツキを考慮した温度電圧影響の補正手法
考虑片上延迟测量中的制造变化的温度-电压效应的校正方法
DOI: --
发表时间: 2022
期刊:
影响因子: --
作者: [加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司]
通讯作者: 梶原誠司
論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
关于逻辑BIST测试功率控制方法和TEG评估
DOI: --
发表时间: 2018
期刊:
影响因子: --
作者: [加藤隆明, 王 森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司]
通讯作者: 梶原誠司
メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
根据存储器大小和形状识别逻辑部件中高功耗区域的研究
DOI: --
发表时间: 2020
期刊:
影响因子: --
作者: [高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司]
通讯作者: 梶原誠司
Good die prediction modelling from limited test items
从有限的测试项目中建立良好的模具预测模型
DOI: 10.1109/itc-asia.2018.00030
发表时间: 2018
期刊: Proc. IEEE International Test Conference in Asia.
影响因子: --
作者: [98.Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura]
通讯作者: Yoshiyuki Nakamura
共 27 条
    システムLSIに対するテスト効率化手法に関する研究
    • 批准号:
      14780228
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • 资助金额:
      $1.28万
    • 财政年份:
      2002
    • 负责人:
      梶原 誠司
    • 依托单位:
    ULSI時代の高機能テスト生成システムの開発
    • 批准号:
      11780234
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
    • 资助金额:
      $1.54万
    • 财政年份:
      1999
    • 负责人:
      梶原 誠司
    • 依托单位:
    論理回路の遅延故障のテストパターン生成手法に関する研究
    • 批准号:
      07780257
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
    • 资助金额:
      $0.64万
    • 财政年份:
      1995
    • 负责人:
      梶原 誠司
    • 依托单位:
    組合せ論理回路のテスト集合の圧縮手法に関する研究
    • 批准号:
      05780252
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
    • 资助金额:
      $0.58万
    • 财政年份:
      1993
    • 负责人:
      梶原 誠司
    • 依托单位:
    海外基金