M系列を用いる論理回路およびメモリの故障診断

使用 M 系列进行逻辑电路和存储器的故障诊断

• 批准号: 04650383
• 负责人: 柏木 濶
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Kumamoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1992
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1992 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-04650383/
• 关键词: 擬似不規則信号; M系列; 故障診断; 相関技術; ボードテスタ

論理回路の故障診断を行うのに、入力として擬似不規則信号の一つであるM系列信号を加え、出力との相互相関関数を基準値と比較する方法により故障の有無を判断する方法(MSEC法と呼ぶ)を拡張し、故障の有無だけでなく、故障の箇所の特定まで行えるシステムの構築について研究を行った。故障の箇所を特定する方法としては、対象の論理回路に予め人為的に種々の故障を発生させ、MSEC法により得られた相関値のパターンを測定し、その相関値と故障箇所を数師信号としてニューラルネットワークへ入力することによって、ニューラルネットワークを教育する方法をとった。対象回路としてはBainary Full AdderであるIC 7482(5入力,3出力)をとりあげ、その中に14ケ所に故障を発生させ、相関値のパターンを計測した。ニューラルネットワークは入力層182ノード、中間層8ノード、出力層8ノードの3層の構成のものを用いた。その結果、故障箇所の判定ができる確率は50%から100%に至るまで種々の場合があることが分かったが、平均的には85%であり、この方法により故障箇所の特定が可能であることが分かった。更に本方法を実時間で実現するために、より簡便な方法として、相関値そのものを用いるのではなく、相関値の正負のみに着目してニューラルネットワークを教育する方法を検討したが、今までのところあまり良い結果は得られていない。CPUを含んだ能動回路が存在する場合は外部入力によってそれをどう動かすかという問題を含めて、種々の角度から検討中である。

In the management circuit, the fault breaks the line, the input signal appears to be the signal of the M series, and the output signal is related to each other. There is a failure detection method (MSEC method), a fault diagnosis method, a fault fault, a specific fault line, a fault signal, a fault signal, a The fault diagnosis system is used for specific fault diagnosis, the fault diagnosis loop is used for human-made fault diagnosis, and the MSEC method is used to determine the performance of the fault. The number of signals related to the fault is not affected by the number of signals that the failure occurs. Like the circuit, the Bainary Full Adder, the IC 7482 (5 input, 3 output), the fault caused by the 14 in the middle of the circuit, the phase caused the failure, and the phase was calculated. Please tell me that the input force is 182, the output is 8, and the output is 3. The result of the test, the determination accuracy rate of the failure is 50% and 100%, the average error rate is 85%, and the failure method can be used to determine the accuracy rate of 50% and 100% respectively. In this method, you can use this method to verify that you can use this method, and you can use this method to make sure that you use the method to improve the quality of education. There is a problem with the CPU that there is a problem in the electric power loop. There is a problem with an external force. There is a problem with a variety of angles.

项目成果

柏木 潤 H.Kashiwagi: "Fault Diagnosis of Logical Circuit by use of Correlation and Neural Network" Proc.'92KACC held in Seuol,Korea.Vol.2. 569-572 (1992)

H.Kashiwagi：“利用相关性和神经网络进行逻辑电路的故障诊断”Proc.92KACC 在韩国首尔举行。Vol.2 (1992)。