重粒子線によるDNA損傷のLET依存性に関する研究

重离子束引起的DNA损伤的LET依赖性研究

• 批准号: 06282245
• 负责人: 渡邉 正己
• 金额: $ 0.96万
• 依托单位: Nagasaki University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1994
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1994 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-06282245/
• 关键词: 高LET放射線; 致死効果; 突然変異スペクトラム; 多重PCR法; HGPRT遺伝子; マイクロドジメトリー

ヒト胎児由来細胞に、各種エネルギーに加速された炭素、ネオンイオンを照射し、突然変異頻度、染色体異常頻度およびDNA損傷程度を調べた。その結果、LETが100-200keVの放射線が最も致死効果および突然変異誘発効果が高いことがわかった。このLET領域では、染色体およびDNA損傷の程度も大きい。しかし、照射された細胞集団からHGPRT遺伝子座突然変異細胞を分離し、HGPRT遺伝子座における変化を、HGPRT遺伝子の9つのエクソンに対するプライマーを用いた多重PCR法で解析すると、LETの違いによって変化のスペクトラムが大きく、生物効果が強く現われる100-200LET領域で誘導される変異体では、欠失の程度が大きくすべてのエクソン(54kb)を大きく超えるが、さらに高いLET領域で生ずる変異体は、無欠失型が大半を占めることがわかった。高LET領域では、大掛かりな遺伝子欠損は致死に結びつきためではないかと予想している。これらの結果は、高LET放射線の生物影響を理解するためには、細胞内マイクロドジメトリーの重要性を示唆している。

It regulates the frequency of sudden changes, the frequency of chromosomal abnormalities, and the degree of DNA damage caused by exposure to carbon and biological information accelerated by fetal origin cells and various environmental factors. As a result, LET of 100-200keV radiation is the most lethal effect and sudden induction effect. The LET domain has a high degree of chromosome damage and DNA damage. The cell population was irradiated, and the HGPRT gene loci were transformed. The HGPRT gene loci were transformed. The HGPRT gene loci were analyzed by multiplex PCR. The LET gene was transformed. The biological effect was strong. The LET gene was induced in the field of 100-200LET. The degree of deficiency is large, and the majority of the defects are large. High LET field These results demonstrate the importance of understanding the biological effects of high-LET radiation on cells.