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On-Line Masking of Periodic Multiple Transient Faults under Highly Electromagnetic Environments

On-Line Masking of Periodic Multiple Transient Faults under Highly Electromagnetic Environments
强电磁环境下周期性多重暂态故障的在线屏蔽
批准号：
15K21413
负责人：
ARAI Masayuki
金额：
$2.41万
依托单位：
Nihon University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2018-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-15K21413/
关键词：
同時多重過渡故障双対近似回路クリティカルエリアインバータスイッチングノイズ高電磁環境多重過渡故障オンラインマスクオンライン誤りマスク

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Data Aggregation on Smart Grid Communications Considering Fault Tolerance and Privacy
考虑容错和隐私的智能电网通信数据聚合
DOI： --
发表时间： 2017
期刊：
影响因子： --
作者： [Ryota Ogasawara, Masayuki Arai]
通讯作者： Masayuki Arai
Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices
高可靠性器件基于布局的测试覆盖率验证
DOI： 10.1109/tsm.2017.2746089
发表时间： 2017
期刊： IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
影响因子： 2.7
作者： [Yoshikazu Nagamura, Kenji Shiozawa, Toru Koyama, Jun Matsushima, Kazuhiko Tomonaga, Yutaka Hoshi, Shuji Nomura, Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki]
通讯作者： Kazuhiko Iwasaki
Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation
布局感知的两步基于窗口的模式重新排序，用于快速生成桥接/开放测试
DOI： --
发表时间： 2017
期刊：
影响因子： --
作者： [Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki]
通讯作者： Kazuhiko Iwasaki
Note on Fast Bridge Fault Test Generation Based on Critical Area
基于临界区域快速生成桥梁故障测试的注意事项
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki]
通讯作者： Kazuhiko Iwasaki
共 15 条
    Eclipse Plugin Tool for Learning Programming Style of Java
    • 批准号：
      15K01035
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.5万
    • 财政年份：
      2015
    • 负责人：
      ARAI Masayuki
    • 依托单位：
      Teikyo University
    TCP/IP Application Protocol Visualization System with a Packet Capturing Function
    • 批准号：
      24501150
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $3.33万
    • 财政年份：
      2012
    • 负责人：
      ARAI Masayuki
    • 依托单位：
      Teikyo University
    SoC Defect Level Reduction Based on Critical Area Sampling
    Visual Tracing System for Java Applet Novice Programmers
    • 批准号：
      21500907
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.83万
    • 财政年份：
      2009
    • 负责人：
      ARAI Masayuki
    • 依托单位：
      Teikyo University