Research on Extra-Low-Power Self-Test for LSI Circuits in Implantable Medical Devices
Research on Extra-Low-Power Self-Test for LSI Circuits in Implantable Medical Devices
植入式医疗器械LSI电路超低功耗自测试研究
批准号：
25280016
负责人：
WEN XIAOQING
金额：
$11.32万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-04-01 至 2018-03-31
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論理BISTにおけるスキャンイン電力 制御手法とTEG評価
逻辑BIST中的扫描输入功率控制方法和TEG评估
逻辑BIST中的扫描输入功率控制方法和TEG评估
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[加藤隆明, 王森レイ, 佐藤康夫, 梶原誠司, 温暁青]
通讯作者：
温暁青
University of Bremen/University of Freiburg/University of Stuttgart(ドイツ)
不来梅大学/弗莱堡大学/斯图加特大学（德国）
不来梅大学/弗莱堡大学/斯图加特大学（德国）
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[]
通讯作者：
高品質実速度スキャンテスト生成に関する研究
高质量实时扫描测试生成研究
高质量实时扫描测试生成研究
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[宮崎俊紀, 温暁青, ホルスト シュテファン, 宮瀬紘平 , 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
On Optimal Power-Aware Path Sensitization
关于最佳功率感知路径敏化
关于最佳功率感知路径敏化
DOI：
10.1109/ats.2016.63
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
--
作者：
[Matthias Sauer, Jie Jiang, Sven Reimer, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Bernd Becker, Ilia Polian]
通讯作者：
Ilia Polian
SafeTIDE: A Technique for Transition Isolation Scan Cells Hardware Overhead Reduction
SafeTIDE：一种减少转换隔离扫描单元硬件开销的技术
SafeTIDE：一种减少转换隔离扫描单元硬件开销的技术
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y.-T. Lin, J.-L. Huang, X. Wen]
通讯作者：
X. Wen
共 36 条
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