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Research on Logic Switching Activity Balanced Test for High-Quality Low-Cost LSIs

Research on Logic Switching Activity Balanced Test for High-Quality Low-Cost LSIs
高品质低成本LSI逻辑开关活性平衡测试研究
批准号：
24650022
负责人：
WEN Xiaoqing
金额：
$2.41万
依托单位：
Kyushu Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2015-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-24650022/
关键词：
LSIテストスキャンテスト電力クロックスキュー最適電力テスト低電力テストテスト品質IR-Dropテストデータテスト電力調整遅延テスト微小遅延故障活性化パス高信頼化高品質化

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GPU-accelerated small delay fault simulation
DOI： 10.7873/date.2015.0077
发表时间： 2015-03
期刊： 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子： --
作者： [E. Schneider;S. Holst;M. Kochte;X. Wen;H. Wunderlich]
通讯作者： E. Schneider;S. Holst;M. Kochte;X. Wen;H. Wunderlich
A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys
一种使用部分无关密钥进行多位翻转的软错误容错 TCAM
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen]
通讯作者： X. Wen
LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing
LCTI-SS：低时钟树影响扫描分段，以避免扫描测试中的移位时序故障
DOI： 10.1109/mdt.2012.2221152
发表时间： 2013
期刊： IEEE Design & Test of Computers
影响因子： --
作者： [Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Kajihara, L.-T. Wang]
通讯作者： L.-T. Wang
Low-Power LSI Testing
低功耗LSI测试
DOI： --
发表时间： 2013
期刊：
影响因子： --
作者： [N.A. Zakaria, M.Z Khalid, X. Wen, X. Wen, X. Wen]
通讯作者： X. Wen
共 19 条
    Power Adjustment Testing for Next-Generation Low-Power LSI Circuits
    • 批准号：
      22300017
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $4.16万
    • 财政年份：
      2010
    • 负责人：
      WEN Xiaoqing
    • 依托单位：
      Kyushu Institute of Technology
    Research on Advanced VLSI Test for Avoiding Signal Degradation
    • 批准号：
      19500047
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.91万
    • 财政年份：
      2007
    • 负责人：
      WEN Xiaoqing
    • 依托单位：
      Kyushu Institute of Technology
    Research on False Test Avoidance for LSI Yield Improvement
    • 批准号：
      17500039
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $1.34万
    • 财政年份：
      2005
    • 负责人：
      WEN Xiaoqing
    • 依托单位：
      Kyushu Institute of Technology