Low-power and high-reliability design of analog integrated circuit based on order statistics
Low-power and high-reliability design of analog integrated circuit based on order statistics
批准号:
22K11953
负责人:
ISLAM MAHFUZUL
金额:
$2.66万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2022
资助国家:
日本
项目状态:
未结题
起止时间:
2022-04-01 至 2025-03-31
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英文摘要
本研究では,アナログ回路の順序統計に基づく設計方法を提案し,アナログ集積回路の低消費エネルギー化と長寿命化を両立させる.従来の特性ばらつきと経年劣化の対策に特殊回路や回路大面積化などが採用され,大きなエネルギー損が発生する.本研究では,ばらつきと経年劣化の両方の対策を順序統計の応用により実現する手法を研究する.順序統計に基づく設計では多数の小面積の部品から,特性の順位に基づいて必要な部品のみを選択する.順位は大小関係の診断のみで行うことができるため,安価なディジタル技術でチップ上に実装可能である.以上を達成するために,本年度では順序統計に基づく設計手法について次の検討を行った.高速フラッシュ型AD変換回路を対象にコンパレータ回路のオフセット電圧のばらつきを65nmプロセスに試作したチップを用いて定量的に評価した.255個のコンパレータのオフセット電圧の分布を評価し,温度によってオフセット電圧の変化率の統計情報を取得した.オフセット電圧の温度依存性の統計情報は貴重なものであり,従来その定量的な報告がなかった.測定した結果をテスト技術に関する国際学会であるICMTSにて発表を行った.発表内容はベストペーパに選ばれるほどテスト分野の人々に高く評価された.次に,コンパレータのオフセット電圧を参照電圧として活用する低消費電力のフラッシュ型AD変換回路の設計及び実測による評価を行った.オフセット電圧を参照電圧として活用するために,多数のコンパレータから目標の参照電圧と等しいオフセット電圧を持つコンパレータを選択する必要があり,その選択手法に順序統計の応用を提案している.本年度は,その順序統計に基づいた選択手法によるAD変換回路の最適化手法を提案した,回路系の国際学会であるNEWCASにて論文発表を行った.発表した内容は高く評価され,IEEE論文誌の特集号に招待された.
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DOI:
10.35848/1347-4065/acb94e
发表时间:
2023-02
期刊:
Japanese Journal of Applied Physics
影响因子:
1.5
作者:
[Shinichi Ota;Mahfuzul Islam;T. Hisakado;O. Wada]
通讯作者:
Shinichi Ota;Mahfuzul Islam;T. Hisakado;O. Wada
Measurement of temperature effect on comparator offset voltage variation
测量温度对比较器失调电压变化的影响
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Yuma Iwata, Takehiro Kitamura, and Mahfuzul Islam]
通讯作者:
and Mahfuzul Islam
Performance Improvement of Order Statistics Based Flash ADC Using Multiple Comparator Groups
使用多个比较器组改进基于阶数统计的闪存 ADC 的性能
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Takehiro Kitamura, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada]
通讯作者:
and Osami Wada
Wide temperature- and voltage-range temperature sensing utilizing statistical property of sub-threshold MOSFET current
利用亚阈值 MOSFET 电流的统计特性进行宽温度和电压范围温度感测
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Shinichi Ota, Mahfuzul Islam, Takashi Hisakado, and Osami Wada]
通讯作者:
and Osami Wada
Demonstration of order statistics based Flash ADC in a 65nm process
65nm 工艺中基于阶数统计的闪存 ADC 演示
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Mahfuzul Islam, Takehiro Kitamura, Takashi Hisakado, Osami Wada]
通讯作者:
Osami Wada
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