Evaluation of photoemission data in the framework of a layered KKR-method

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Gegenstand des Projektes ist die Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsdaten auf der Grundlage eines Schicht-KKR-Verfahrens. Das Verfahren erlaubt eine direkte Berechnung von Photoemissionsspektren im Sinne eines Einstufenmodells, indem sukzessive Elektronenstreuung an Einzelatomen, zweidimensionalen Schichten, zwischen den Schichten und am Oberflächenpotential betrachtet wird. Chemische Zusammensetzung, Struktur und magnetische Ordnung können dabei von Schicht zu Schicht variieren, Oberflächen- und Grenzflächenzustände werden erfaßt, und Diffraktion der Photoelektronen wird berücksichtigt. Das Verfahren soll zur Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsspektren und zur Berechnung von Fermiflächen von epitaktischen Seltenerd- und Urandünnschichten auf verschiedenen einkristallinen Substraten, quasi-zweidimenisonalen Einlagerungschichtverbindungen Seltener Erden in Graphit und Übergangmetall-Dichalkogenide sowie Mn/Cu-Multilagen eingesetzt werden. Schwerpunkte sind dabei die Untersuchung von "Quantum-well"- und Grenzflächenzuständen, Fermiflächenmapping sowie Photoelektronendiffraktionseffekte bei Emission aus elektronischen Zuständen im Grenzbereich zwischen lokalisiertem und bandartigem Verhalten.