Evaluation of photoemission data in the framework of a layered KKR-method

在分层 KKR 方法框架内评估光电发射数据

• 批准号: 5229206
• 负责人: Professor Dr. Clemens Laubschat
• 金额: --
• 依托单位: Arbeitsgruppe Photoelektronenspektroskopie
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2003-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5229206?language=en
• 关键词: Evaluation; photoemission; data; framework; layered

Gegenstand des Projektes ist die Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsdaten auf der Grundlage eines Schicht-KKR-Verfahrens. Das Verfahren erlaubt eine direkte Berechnung von Photoemissionsspektren im Sinne eines Einstufenmodells, indem sukzessive Elektronenstreuung an Einzelatomen, zweidimensionalen Schichten, zwischen den Schichten und am Oberflächenpotential betrachtet wird. Chemische Zusammensetzung, Struktur und magnetische Ordnung können dabei von Schicht zu Schicht variieren, Oberflächen- und Grenzflächenzustände werden erfaßt, und Diffraktion der Photoelektronen wird berücksichtigt. Das Verfahren soll zur Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsspektren und zur Berechnung von Fermiflächen von epitaktischen Seltenerd- und Urandünnschichten auf verschiedenen einkristallinen Substraten, quasi-zweidimenisonalen Einlagerungschichtverbindungen Seltener Erden in Graphit und Übergangmetall-Dichalkogenide sowie Mn/Cu-Multilagen eingesetzt werden. Schwerpunkte sind dabei die Untersuchung von "Quantum-well"- und Grenzflächenzuständen, Fermiflächenmapping sowie Photoelektronendiffraktionseffekte bei Emission aus elektronischen Zuständen im Grenzbereich zwischen lokalisiertem und bandartigem Verhalten.

Gegenstand des Projektes is die Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsdaten auf der Grundlage eines Schicht-KKR-Verfahrens.该方法建立了一个直接影响Sinne光电发射光谱的模型，该模型包括两个维度的电子流，两个维度的Schichten，两个维度的Schichten和一个Oberflächenpotential。化学Zusammensetzung，Struktur和magnetische Ordnung können dabei von Schicht zu Schicht variieren，Oberflächen- und Grenzflächenzustände韦尔登erfaßt，and Diffraktion der Photoelektronen wird berücksichtigt。这种方法可以用来测量外延自发光和铀表面自发光的光电发射谱，并测量其在不同衬底上的费米能级，即在石墨和非金属双硫族化合物中的准二维自发光和半导体多晶韦尔登。Schwerpunkte sind dabei die Untersuchung von“Quantum-well”- und Grenzflächenzuständen，Fermiflächenmapping sowie Photoelektronendffraktionseffekte bei Emission aus elektronischen Zuständen im Grenzhreich zwischen lokalisiertem und bandartigem Verhalten.