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Evaluation of photoemission data in the framework of a layered KKR-method

在分层 KKR 方法框架内评估光电发射数据

基本信息

批准号：
5229206
负责人：
Professor Dr. Clemens Laubschat
金额：
--
依托单位：
Arbeitsgruppe Photoelektronenspektroskopie
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
1999
资助国家：
德国
起止时间：
1998-12-31 至 2003-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5229206?language=en
关键词：
Evaluation photoemission data framework layered

项目摘要

Gegenstand des Projektes ist die Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsdaten auf der Grundlage eines Schicht-KKR-Verfahrens. Das Verfahren erlaubt eine direkte Berechnung von Photoemissionsspektren im Sinne eines Einstufenmodells, indem sukzessive Elektronenstreuung an Einzelatomen, zweidimensionalen Schichten, zwischen den Schichten und am Oberflächenpotential betrachtet wird. Chemische Zusammensetzung, Struktur und magnetische Ordnung können dabei von Schicht zu Schicht variieren, Oberflächen- und Grenzflächenzustände werden erfaßt, und Diffraktion der Photoelektronen wird berücksichtigt. Das Verfahren soll zur Auswertung winkelaufgelöster Photoemissionsspektren und zur Berechnung von Fermiflächen von epitaktischen Seltenerd- und Urandünnschichten auf verschiedenen einkristallinen Substraten, quasi-zweidimenisonalen Einlagerungschichtverbindungen Seltener Erden in Graphit und Übergangmetall-Dichalkogenide sowie Mn/Cu-Multilagen eingesetzt werden. Schwerpunkte sind dabei die Untersuchung von "Quantum-well"- und Grenzflächenzuständen, Fermiflächenmapping sowie Photoelektronendiffraktionseffekte bei Emission aus elektronischen Zuständen im Grenzbereich zwischen lokalisiertem und bandartigem Verhalten.

研究方向：项目研究方向：Auswertung winkelaufgelöster光电数据研究方向：Schicht-KKR-Verfahrens。Das Verfahren derlaut erekne Berechnung von photoemission spetrem in sinine estefens instefens modeles, indesegerelectronicenstreung and Einzelatomen, zweidimensionalschichten, zwischen den Schichten and am Oberflächenpotential betrachetet wind。化学与机械学报，结构与磁性学报können dabei von Schicht zu Schicht variien， Oberflächen- and Grenzflächenzustände werden erfat ßt，衍射与光电子衍射与光子衍射与光子衍射。Das Verfahren soll zur Auswertung winkelaufgelöster光发射光谱和zur Berechnung Fermiflächen von epitaktischen selteneren - und urand<s:1> nnschichten auf verschiedeneinkristallinen衬底，准zweidimensionalen einlagerungschichtverteneren Seltener Erden在石墨和Übergangmetall-Dichalkogenide sowie Mn/Cu-Multilagen eingesetzt werden。Schwerpunkte sind dabei die Untersuchung von "Quantum-well"- und Grenzflächenzuständen， Fermiflächenmapping sowie光电子衍射seffekte bei Emission aus electron - onischen Zuständen in Grenzbereich zwischen lokalisiertem and bandartigem Verhalten。