電子顕微鏡により難視材料を可視化するための研究

使用电子显微镜可视化难以看到的材料的研究

基本信息

批准号：
03352025
负责人：
石田洋一
金额：
$ 1.73万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Co-operative Research (B)
财政年份：
1991
资助国家：
日本
起止时间：
1991 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

難視材料の可視化、即ち電子線照射によって内部構造が容易に変化する物質、原子結合が切断される物質、低散乱能で像コントラストが低い物質、過渡的にしか観察(存在)できない物質や現象などを、現行の電顕か新装置手法の工夫で観察可能にする方途を探るのが本研究の目的である。物理系、材料系及び医学生物系27名の研究者が2度の研究会で調査討論を重ねた。第1回目は東京大学生産技術研究所に於いて開いた。高速電子線と結晶性、非結晶性の材料及び有機材料、生体との相互作用について、各研究者がそれぞれの基礎的デ-タを提出しあい、調査討論が行われた。この結果を各研究者が持ち帰り関連実験を行ったのち再度集まって第2回目研究論会が東京大学物性研究所に於いて開かれた。こんどは主に難視現象に対する対策が、観察装置と観察手法の両面から討論調査された。その結果、難視現象の原因は、照射損傷による構造破壊と低散乱因子が主原材料難視因である事が再確認された。前者では損傷の完全排除は不可能乍ら、損傷のプロセスを物質ごとに丹念に解明すれば、それぞれに応じた個別対応方式で、実質的に著しく軽減される可能性が示唆された。後者の低散乱能物質や低散乱能構造については、現行高分解能電子顕微鏡では直ちの対応はできず、新たな技術的展開が必要であるとされた。とくにポテンシャル変化が緩やかな欠陥周りの電子構造観察は、電顕の分解能向上のみで対応できるものでなく、現象を数値化してこれを視覚化する必要があると結論された。具体的には、電子線ホログラフィ-が大きな可能性を持っているとされた。その結果、平成5年度発足の重点領域研究として、電子線バイプリズムによるホログラフィ-を基礎にした電子顕微鏡法によって、中性子損傷過程の精密解析を行う事、機能物質の構造・機能相関の解明による新たな材料開発研究をおこなうこと、を内容とした申請をする事となった。

这项研究的目的是探索如何可视化难以进行视觉材料的方法，即，它们的内部结构很容易通过电子束辐射而更改其内部结构，其原子键被切断的材料，具有低散射能力和较低图像对比度的材料，只能（仅能（存在）（存在），使用当前的电子显微镜或新的设备技术（存在）。 27名物理，材料和医学生研究人员在两个研究小组中进行了研究和讨论。第一次活动在东京大学工业技术学院举行。每个研究人员都提交了自己的基本数据，并就高速电子束，结晶，非晶体，有机材料和活生物体之间的相互作用进行了研究讨论。在每个研究人员进行外卖实验之后，结果再次收集，第二次研究会议在东京大学物理财产研究所举行。这次，主要讨论和研究了针对难度现象的措施。结果，已经证实，困难的视觉现象的原因是由辐射损伤和低散射因子引起的结构破坏，这是主要原材料的困难视觉现象的原因。不可能完全消除前者的损害，并且有人建议，如果为每种物质仔细阐明损害过程，则可以通过使用每个个体的个性化方法来大大降低损害过程。后者的低散射能力材料和低散射能力的结构不能立即使用当前的高分辨率电子显微镜来解决，并且需要新的技术发展。得出的结论是，在潜在变化是逐渐变化的缺陷周围的电子结构的观察中，无法通过改善电子显微镜的分辨率来处理，并且有必要量化现象并可视化。具体而言，电子束全息图被认为具有很大的潜力。结果，作为将于1993年启动的关键领域研究项目，我们已申请使用基于电子束二倍体的全息图进行电子显微镜进行中子损伤过程的精确分析，并通过阐明功能材料的结构和功能相关性来进行新的材料开发研究。