Rastersondenmikroskopische Nanostrukturierung von Silizium
Rastersondenmikroskopische Nanostrukturierung von Silizium
批准号:
5253374
负责人:
Professor Dr. Hans Joachim Lewerenz (†)
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
2000
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1999-12-31 至 2003-12-31
中文摘要
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英文摘要
Die Mikro- und Nanostrukturierung von Silizium soll mit rastersondenmikroskopischen Verfahren induziert werden. Dies soll durch die Erzeugung von Defekten im atomaren Bereich unter Einsatz von STM und AFM, auch unter Verwendung von sog. Lithographie-Programmen erleichtert werden. Die Versuche zur Defekterzeugung werden an Luft, in geeigneter Gasatmosphäre und in Elektrolyten durchgeführt. Als mögliche Defekte kommen Indentationen, Oxidinseln und mittels STM abgeschiedene Metallcluster in Betracht. ... Neben diesen Versuchen zur Erzeugung geordneter Strukturen soll auch der Einfluß von spezifisch adsorbierten Ionen auf die Strukturbildung untersucht werden. ... Die weitere Strukturbildung wird elektrochemisch durchgeführt. Hierfür ist eine systematische und gezielte Variation der Versuchsparameter ... erforderlich. Im Vordergrund steht die gezielte Herstellung geordneter Strukturen mit hohem Aspektverhältnis. Als Analyseverfahren werden in situRastersondenmikroskopie (AFM, STM), elektronenmikroskopische Verfahren und ex situ kombinierte Elektrochemie-UHV-Oberflächenanalyseverfahren eingesetzt.
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会议论文
Laterale und vertikale Nanostrukturbildung an Siliciumelektroden durch kontrollierte selbstorganisierte Prozesse
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批准号:5443525
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项目类别:Research Grants
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资助金额:$0.0万
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财政年份:2005
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负责人:Professor Dr. Hans Joachim Lewerenz (†)
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依托单位:
海外基金