組合せ回路の遅延故障に対する新しいテストとその診断への応用に関する研究

组合电路延时故障新测试方法及其诊断应用研究

• 批准号: 09780293
• 负责人: 高橋 寛
• 金额: $ 1.02万
• 依托单位: Ehime University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1997 至 1998
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09780293/
• 关键词: 組合せ回路; 遅延故障; テスト生成; 故障診断; 組み合せ回路

本研究の実績を以下に示す.1. 前年度の研究成果である診断用テスト集合を用いた多重ゲート遅延故障に対する診断法を提案した.本研究では,これまでに提案されていない信号線の信号値および信号変化時刻を利用した診断法を考察した.本診断法では,信号伝搬遅延時間を利用し,外部出力で観測された信号変化の最終変化時刻を決定した信号変化の伝搬経路を外部出力側から推定する.本診断法は平成9年度の成果である診断用テストを利用した手法である.まず,これまで我々が提案した多重縮退故障に対する推論規則に基づいて,ゲート遅延故障に対する推論規則を考察する.次に,外部出力で観測された故障出力と最終変化時刻に基づいて活性化経路上の被疑故障を推定する診断法と,外部出力で観測された正常出力と最終変化時刻に基づいて活性化経路上の正常な信号線を同定する診断法をそれぞれ提案した.2. 前年度の科学研究費補助金により購入したワークステーション上に提案した診断法を実現し,国際会議において定められたISCAS'85ベンチマーク回路に適用した計算機実験を行った.実験結果から,提案した診断法は高い診断分解能を得られることを示した.

The results of this study are as follows: 1. The research results of the previous year showed that the diagnosis method was effective. In this study, we propose to use diagnostic methods to investigate the signal value and signal transformation time of signal lines. This diagnostic method uses the signal transition delay time, determines the final transition time of the signal transition from the external output side to the external output side, and estimates the signal transition time from the external output side to the external output side. This diagnostic method was developed in 2009. The inference rule for multiple regression faults is based on the inference rule for multiple regression faults. Second, the diagnosis method for estimating the suspected fault on the active circuit when the external output is measured and the diagnosis method for determining the normal signal line on the active circuit when the external output is measured and the final transformation time is determined. Scientific research grants for the past year have been proposed for implementation in ISCAS'85 The diagnosis method is high in diagnostic decomposition energy.

项目成果

Hiroshi Takahashi: "A Method of Generating Tests for Marginal Delays and Delay Faults in Combinational Circuits" Proc.Sixth Asian Test Symposium. 320-325 (1997)

Hiroshi Takahashi：“组合电路中边际延迟和延迟故障的生成测试方法”Proc.第六届亚洲测试研讨会。

K.O.Boateng: "Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays" IEICE Transactions on Information and Systems. E81-D,7. 706-715 (1998)

K.O.Boateng：“使用测试对进行边际延迟的多门延迟故障诊断”IEICE Transactions on Information and Systems。

H.Takahashi: "Diagnosis of Single Gate Delay Faults in Combinational Circuits using Delay Fault Simulation" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 108-112 (1998)

H.Takahashi：“使用延迟故障仿真诊断组合电路中的单栅极延迟故障”IEEE 第七届亚洲测试研讨会论文集。

N.Yanagida: "Electron Beam Tester Aided Fault Diagnosis for Logic Circuits based on Sensitized Paths" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 237-241 (1998)

N.Yanagida：“电子束测试仪辅助基于敏化路径的逻辑电路故障诊断”IEEE 第七届亚洲测试研讨会论文集。