分子線多重交差法による配向選別分子間ポテンシャルの直接決定

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アダマール粒子分光法を利用した散乱分布測定装置を試作した。配向分子線交差反応装置に、15個のスリットよりなるアダマールスリットを設置した高真空対応パルス回転ステージを設置した。このアダマールスリットを反応交点を中心に回転させ、アダマールスリットで切り出した反応交点からの信号をMCPで検出することで、ペニングイオンおよび、弾性散乱された準安定希ガス原子の散乱分布を得ることを可能にした。また高真空対応パルスステージにアダマールスリットを設置し、これをビームコリメーターとして用いることでコード化された多重分子線を発生させた。今回は予備的に15個のスリットよりなるアダマールスリットを用いて多重分子線を発生させた。このようなアダマールスリットを用いた多重分子線を用いることで分子線交差により生成したイオンの信号強度を10倍程度改善させることができた。しかしながら同時にバックグラウンド信号も同様に増えてしまい、十分なS/N比の改善にはいたっていない。またスリットを掃引時における信号強度の時間変化がアダマール変換による散乱分布測定を困難にしていることがわかった。特に、微弱な信号を取り扱う本研究の場合バックグランド信号の長期的揺らぎが大きな影響をあたえてしまう。現在、スリット掃引サイクル時間を短くして測定をおこないこのような長期的揺らぎの影響を少なくするために、コンピューター制御された自動測定システムを構築中である。