A Basic Study on SoC Base Dependable Processor with Self-healing Mechanism for Faults

具有故障自愈机制的SoC基可靠处理器的基础研究

• 批准号: 18500041
• 负责人: FUKUMOTO Satoshi
• 金额: $ 2.55万
• 依托单位: Tokyo Metropolitan University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18500041/
• 关键词: 過渡故障; ソフトエラー; 同時多重故障; 時空間冗長プロセッサ; 性能評価尺度; 信頼性評価尺度; 確率モデル; FPGA; 時間冗長プロセッサ; コンデンサ放電; 電磁波

誤りからの自己回復機能を持つディペンダブル・プロセッサを実現するための基礎的検討をおこなった. 過渡的な誤りがプロセッサのクロック信号系だけに同時多重に作用する故障モデル, および, 組合せ回路部分だけに同時多重に作用する故障モデルのそれぞれに対するディペンダブル・プロセッサ構成方法の有効性と限界についての知見を得た. また, 種々の耐故障プロセッサの性能・信頼性を解析的に評価するための統一的なモデルとなり得る確率モデルを提案した

The error recovery function is maintained and the basic search is performed. The fault of transition is caused by simultaneous multiple action of signal system, and the fault of combination loop is caused by simultaneous multiple action of signal system. For example, the failure resistance of the species, the performance of the species, the reliability of the species, the analysis of the species, the evaluation of the species, the unified species, the accuracy of the species, and the analysis of the species.

项目成果

CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析-

CMOS LSI的ESD/Latch-up故障分析 -使用实际数据的故障模式分析-

• 发表时间: 2008
• 作者: 小日向秀雄;新井雅之;福本聡
• 通讯作者: 福本聡

故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価

通过故障插入评估TMR处理器的卡住容错能力

• 发表时间: 2007
• 作者: 丸本耕平;新井雅之;福本聡;岩崎一彦
• 通讯作者: 岩崎一彦

Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves

能够耐受电磁波引起的瞬态故障的时间冗余处理器

• 发表时间: 2007
• 期刊: Proceedings in Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing in the framework of DSN-2007. (掲載決定)
• 作者: M.Kimura;M.Arai;S.Fukumoto;K.Iwasaki
• 通讯作者: K.Iwasaki

同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを重化した陣所回路

基于同时发生且复用的瞬态故障前提的多寄存器Jinsho电路

• 发表时间: 2009
• 作者: 丸本耕平;新井雅之;福本聡;岩崎一彦
• 通讯作者: 岩崎一彦

耐故障プロセッサ評価モデルの解析について

容错处理器评估模型分析

• 发表时间: 2008
• 作者: 福本聡;新井雅之;岩崎一彦
• 通讯作者: 岩崎一彦