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Analysis of Faulty Test Cricuits and Their Fault Torelant Design

Analysis of Faulty Test Cricuits and Their Fault Torelant Design
测试电路故障分析及容错设计
批准号：
19700044
负责人：
ICHIHARA Hideyuki
金额：
$1.56万
依托单位：
Hiroshima City University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2007
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2007 至 2008
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19700044/
关键词：
設計自動化ディペンダブルコンピューティングBISTフォールトトレラント組込自己テストLSIテストフォールトトレランス巡回符号MISRオンラインテストディペンダプルコンピューティングVLSIテスト耐故障設計歩留まりモデル化設計工学アルゴリズム

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LSIの組込自己テスト(Built-in Self Test: BIST)のための,耐故障性をもつ新しい応答圧縮器(BISTを行うための構成要素であり,テスト結果を保持する回路)である符号化応答圧縮器を提案した.符号化応答圧縮器は壊れている状態でも,テスト対象回路の故障は必ず検知でき,さらにテスト対象回路が正常である場合は高い確率で応答圧縮器の故障を検知できる.また,必要なハードウェアサイズは従来の耐故障性を考えない応答圧縮器に比べて1.6倍程度であった.
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会议论文
Studies on Test Architecture for Test Data Compression / Decompression
  • 批准号：
    15300021
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $6.08万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    ICHIHARA Hideyuki
  • 依托单位：
    Hiroshima City University
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