A study of LSI design method with balance security and testability
A study of LSI design method with balance security and testability
批准号:
20700050
负责人:
YOSHIMURA Masayoshi
金额:
$2.58万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2008
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2008 至 2010
中文摘要
LSIS的安全性和可测性很难平衡,指出了破坏LSIS安全性的因素。提出了提高可测试性而不降低安全性的可测性设计(DFT)技术。提出了一种基于工艺的大规模集成电路设计方法。该方法被应用于三个密码LSI。实验结果表明,三种密码LSI都具有安全性和可测性。
英文摘要
It is difficult to balance with security and testability of LSIs.We showed factors which destroy security of LSIs. DFT (design for testability) techniques which increase testability and do not decrease security were proposed. A LSI design method was constructed by techniques. This method is applied to three cipher LSIs. Experimental results show three cipher LSIs have security and testability.
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キャプチャ時低消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法
捕获期间面向低功耗的测试生成的检测伪外部输出确定方法
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[沈揚, et al]
通讯作者:
et al
順序回路のソフトエラー耐性評価手法の高速化
时序电路软错误容错加速评估方法
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[吉村正義, et al]
通讯作者:
et al
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DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[長谷川創, et al]
通讯作者:
et al
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通过减少状态数加速时序电路软容错评估方法
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[高田直樹, 滝沢努, 宮兆〓, 増田信之, 伊藤智義, 下馬場朋禄, Mostafa Mjidi, 赤峰悠介]
通讯作者:
赤峰悠介
A Bit flipping Reduction Method for Pseudo-random Patterns Using Don't Care Identification on BAST Architecture
BAST架构上使用无关识别的伪随机模式位翻转减少方法
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
[LingLing WAN, et al]
通讯作者:
et al
共 44 条
Study on LSI design technology to detect Trojan circuit inserted during manufacturing process
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批准号:15K00086
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.83万
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财政年份:2015
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负责人:YOSHIMURA Masayoshi
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依托单位:
Study on LSI design methods for security and testability
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批准号:25540020
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.41万
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财政年份:2013
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负责人:YOSHIMURA Masayoshi
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依托单位:
海外基金