Study on LSI design methods for security and testability
Study on LSI design methods for security and testability
批准号:
25540020
负责人:
YOSHIMURA Masayoshi
金额:
$2.41万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2015-03-31
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マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
使用多周期捕获测试生成的面向低功耗的转换故障测试生成方法
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Yanagihara, H., Wakaki, H. & Fujikoshi, Y., 塩雅史, 田中まりか・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・新井雅之(日大), 山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)]
通讯作者:
山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
考虑基于扫描的攻击的密码LSI测试方法
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[吉村 正義, 西間木 淳, 細川 利典]
通讯作者:
細川 利典
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
一种低捕获功耗的多周期捕获测试生成方法
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Hiroshi Yamazaki, Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura]
通讯作者:
Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura
A Smart Trojan Circuit and Smart Attack Method in AES Encryption Circuits
AES加密电路中的智能木马电路及智能攻击方法
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Masayoshi Yoshimura, Amy Ogita and Toshinori Hosokawa]
通讯作者:
Amy Ogita and Toshinori Hosokawa
SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法
使用SAT的面向低捕获功率的无关分配方法
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Masashi Shio, Masao Yanagisawa, and Nozomu Togawa, 高橋慶安・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)]
通讯作者:
高橋慶安・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
共 9 条
Study on LSI design technology to detect Trojan circuit inserted during manufacturing process
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批准号:15K00086
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.83万
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财政年份:2015
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负责人:YOSHIMURA Masayoshi
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依托单位:
A study of LSI design method with balance security and testability
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批准号:20700050
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2008
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负责人:YOSHIMURA Masayoshi
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依托单位:
海外基金