Structure analysis of adsorbed molecules or ions at liquid-liquid interface by total-reflection X-ray absorption spectroscopy

全反射X射线吸收光谱法分析液-液界面吸附分子或离子的结构

• 批准号: 21350047
• 负责人: HARADA Makoto
• 金额: $ 12.15万
• 依托单位: Tokyo Institute of Technology (2010-2012)Japan Synchrotron Radiation Research Institute (2009)
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21350047/
• 关键词: XAFS; 液液界面; 全反射; 反射率測定; 電位規制界面; 反射率; 界面吸着; 偏光X線解析

XAFS (X-ray absorption fine structure) technique has been applied to the local structure analysis of solvated ions or molecules. Total-reflection fluorescence-XAFS (TR-XAFS) method has been developed and improved for the observations of their structures in situ at the liquid-liquid interface.The amount of adsorbed bromide ions at DTAB aqueous solution-hexane interface has been estimated from XAFS jump height at Br K edge using this TR-XAFS apparatus. It was clear that the adsorption behavior of bromide ions at water-hexane interface was different from that at the aqueous solution surface.The molecular orientation of hydrophobic ZnTPP at heptane-water interface was studied byTR-XAFS method taken horizontal and vertical polarizations of synchrotron radiation.

XAFS（X射线吸收精细结构）技术已被应用于溶剂化离子或分子的局域结构分析。本文发展和改进了全反射荧光-XAFS（TR-XAFS）方法，用于在液-液界面上原位观察溴离子的结构，并利用该装置由溴离子在Br K边的跃迁高度估算了溴离子在DTAB水溶液-正己烷界面上的吸附量。采用同步辐射水平和垂直偏振的TR-XAFS方法研究了疏水性ZnTPP在庚烷-水界面上的分子取向。

项目成果

化学への応用が広がる放射光

同步加速器辐射扩大了在化学中的应用

• 发表时间: 2013
• 作者: 東海林敦;折田さやか;杉本恵莉香;野澤桂一郎;柳田顕郎;渋沢庸一;菅原正雄;中野雅由;宮部寛志;瀧上隆智,矢野陽子
• 通讯作者: 瀧上隆智,矢野陽子

シンクロトロンX線反射率測定による液/液界面ギブズ膜の構造解析

使用同步加速器 X 射线反射率测量对液/液界面吉布斯薄膜进行结构分析

• 发表时间: 2011
• 作者: 竹内亮;野澤桂一郎;東海林敦;菅原正雄;瀧上隆智
• 通讯作者: 瀧上隆智

シンクロトロン放射光を利用したソフト界面膜の構造解析

使用同步辐射的软界面膜的结构分析

• 发表时间: 2013
• 作者: 鳥羽山正宏;中西講平;蔵本絢子;小峰伸之;平野雅文;小宮三四郎;瀧上隆智
• 通讯作者: 瀧上隆智

Multilayer Formation of the Fluoroalkanol -〓-Hydrogenated Fluorocarbon Mixture at theHexane/Water Interface Studied by Interfacial Tensiometry and X-ray Reflection

通过界面张力测定和X射线反射研究氟烷醇-氢化氟碳混合物在己烷/水界面处的多层形成

• DOI: 10.1021/jp309589f
• 发表时间: 2012
• 期刊: J.Phys.Chem.B
• 作者: T. Takiue;T. Tottori;K. Tatsuta;H. Matsubara;K. Nitta;H. Tanida;T. Uruga;M. Aratono
• 通讯作者: M. Aratono

X-ray absorption fine structure of bromide ions attracted by cationic surfactants at the heptane-water interface

庚烷-水界面阳离子表面活性剂吸引溴离子的X射线吸收精细结构

• DOI: 10.1088/1742-6596/190/1/012061
• 发表时间: 2009
• 期刊: J.Phys.:Conf.Ser
• 作者: H. Tanida;H. Nagatani M. Harada
• 通讯作者: H. Nagatani M. Harada