Reserch on dependable and long-life solid disc system using flash memories

基于闪存的可靠长寿命固态硬盘系统研究

• 批准号: 23500059
• 负责人: KITAKAMI Masato
• 金额: $ 3.24万
• 依托单位: Chiba University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23500059/
• 关键词: 誤り訂正符号; フラッシュメモリ; 単方向誤り; 多レベルフラッシュメモリ; SSD; ガーベージコレクション; 長寿命; ウェアレべリング; 高信頼化; 長寿命化

This research proposes dependable and long lifetime disk systems based on flash memories.This proposes neighboring error correcting code for dependability, and garbage correction for long lifetime.Neighboring error correcting code corrects errors to neighboring values. This code requires small check symbols by restricting error patterns.Garbage correction discriminates between frequently updated data and non-frequently updated data. By changing the position for the former data sometimes in flash memory chips, the number of erasure in the specified cells is restricted. From this, life time of flash memories is extended.

本研究提出基于快闪记忆体的可靠且长寿命的磁碟系统。这就提出了相邻纠错码的可靠性和垃圾纠错的长生命周期。相邻纠错码将错误纠正到相邻值。此代码通过限制错误模式要求使用小的检查符号。垃圾校正区分频繁更新的数据和不频繁更新的数据。有时通过改变前一种数据在闪存芯片中的位置，可以限制指定单元中的擦除次数。由此，闪存的寿命得以延长。

项目成果

A Class of q-Ary Unidirectional Error Correcting Codes for MLC Flash Memories

MLC闪存的q进制单向纠错码

• 发表时间: 2013
• 作者: 権藤晃徳;岸知二;C. Jiang and S. Wei;牧 慶子，中道 上，青山 幹雄;中所武司;Shohei Kotaki and Masato Kitakami
• 通讯作者: Shohei Kotaki and Masato Kitakami

Performance Analysis of Static Load Balancing in Grid

电网静态负载均衡性能分析

• 发表时间: 2011
• 期刊: International Journal of Electrical Computer Sciences
• 作者: Y. Tanaka;and S. Wei;岸知二;Abu ElEnin Sherihan and Masato Kitakami
• 通讯作者: Abu ElEnin Sherihan and Masato Kitakami

Testing of switch blocks in TSV-reduced three-dimensional FPGA

TSV 简化三维 FPGA 中开关模块的测试

• 发表时间: 2013
• 作者: Kouta Maebashi;Kazuteru Namba and Masato Kitakami
• 通讯作者: Kazuteru Namba and Masato Kitakami

インターネット利用システムにおける攻撃に対する可用性の定量的評価

基于互联网的系统中针对攻击的可用性的定量评估

• 作者: 林 小秦，北神 正人;難波 一輝，伊藤 秀男
• 通讯作者: 難波 一輝，伊藤 秀男

TSV削減型3次元FPGAにおけるスイッチブロックテスト

TSV 简化 3D FPGA 中的开关模块测试

• 发表时间: 2013
• 作者: T.-T. Pham;X. Defago;前橋孝太，難波一輝，北神正人
• 通讯作者: 前橋孝太，難波一輝，北神正人