Characterization of Resistive Switching Behaviors of Si-rich Oxide ReRAMs
富硅氧化物 ReRAM 电阻开关行为的表征
基本信息
- 批准号:25790058
- 负责人:
- 金额:$ 2.75万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份:2013
- 资助国家:日本
- 起止时间:2013-04-01 至 2015-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
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科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Mnナノドットを埋め込んだSiOx膜の抵抗変化特性
Mn纳米点嵌入SiOx薄膜的电阻变化特性
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:荒井 崇;劉 沖;大田 晃生;牧原 克典;宮崎 誠一
- 通讯作者:宮崎 誠一
Evaluation of Chemical Bonding Features and Resistive Switching in TiOx/SiOx Stack in Ti Electrode MIM Diodes
Ti 电极 MIM 二极管中 TiOx/SiOx 堆叠的化学键合特性和电阻切换评估
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:T. Arai;C. Liu;A. Ohta;K. Makihara;and S. Miyazaki
- 通讯作者:and S. Miyazaki
Mnナノドットを埋め込んだNi/SiOx/Ni構造の抵抗変化特性
嵌入Mn纳米点的Ni/SiOx/Ni结构的电阻变化特性
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:荒井 崇;大田 晃生;牧原 克典;宮崎 誠一
- 通讯作者:宮崎 誠一
Mnナノドットを埋め込んだSiOx MIM構造の局所電気伝導解析
嵌入Mn纳米点的SiOx MIM结构的局部导电分析
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:荒井 崇;劉 沖;大田 晃生;牧原 克典;宮崎 誠一
- 通讯作者:宮崎 誠一
SiOx/TiO2積層したMIMダイオードにおける抵抗変化特性評価
SiOx/TiO2 堆叠 MIM 二极管电阻变化特性的评估
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:大田 晃生;福嶋 太紀;牧原 克典;村上 秀樹;東 清一郎;宮崎 誠一
- 通讯作者:宮崎 誠一
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