Characterization of Resistive Switching Behaviors of Si-rich Oxide ReRAMs
Characterization of Resistive Switching Behaviors of Si-rich Oxide ReRAMs
富硅氧化物 ReRAM 电阻开关行为的表征
批准号：
25790058
负责人：
OHTA AKIO
金额：
$2.75万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-04-01 至 2015-03-31
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Mnナノドットを埋め込んだSiOx膜の抵抗変化特性
Mn纳米点嵌入SiOx薄膜的电阻变化特性
Mn纳米点嵌入SiOx薄膜的电阻变化特性
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[荒井 崇, 劉 沖, 大田 晃生, 牧原 克典, 宮崎 誠一]
通讯作者：
宮崎 誠一
Evaluation of Chemical Bonding Features and Resistive Switching in TiOx/SiOx Stack in Ti Electrode MIM Diodes
Ti 电极 MIM 二极管中 TiOx/SiOx 堆叠的化学键合特性和电阻切换评估
Ti 电极 MIM 二极管中 TiOx/SiOx 堆叠的化学键合特性和电阻切换评估
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[T. Arai, C. Liu, A. Ohta, K. Makihara, and S. Miyazaki]
通讯作者：
and S. Miyazaki
Mnナノドットを埋め込んだNi/SiOx/Ni構造の抵抗変化特性
嵌入Mn纳米点的Ni/SiOx/Ni结构的电阻变化特性
嵌入Mn纳米点的Ni/SiOx/Ni结构的电阻变化特性
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[荒井 崇, 大田 晃生, 牧原 克典, 宮崎 誠一]
通讯作者：
宮崎 誠一
Mnナノドットを埋め込んだSiOx MIM構造の局所電気伝導解析
嵌入Mn纳米点的SiOx MIM结构的局部导电分析
嵌入Mn纳米点的SiOx MIM结构的局部导电分析
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[荒井 崇, 劉 沖, 大田 晃生, 牧原 克典, 宮崎 誠一]
通讯作者：
宮崎 誠一
SiOx/TiO2積層したMIMダイオードにおける抵抗変化特性評価
SiOx/TiO2 堆叠 MIM 二极管电阻变化特性的评估
SiOx/TiO2 堆叠 MIM 二极管电阻变化特性的评估
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[大田 晃生, 福嶋 太紀, 牧原 克典, 村上 秀樹, 東 清一郎, 宮崎 誠一]
通讯作者：
宮崎 誠一
共 19 条
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