An IoT that can keep on running over years efficiently and reliably
物联网可以高效可靠地持续运行数年
基本信息
- 批准号:15H02677
- 负责人:
- 金额:$ 10.23万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2015
- 资助国家:日本
- 起止时间:2015-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Impact of cell distance and well-contact density on neutron-induced Multiple Cell Upsets
- DOI:10.1587/transele.e98.c.298
- 发表时间:2013-04
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:J. Furuta;Kazutoshi Kobayashi;H. Onodera
- 通讯作者:J. Furuta;Kazutoshi Kobayashi;H. Onodera
A Non-Redundant Low-Power Flip Flop with Stacked Transistors in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process
采用 65 nm 薄盒 FDSOI 工艺的非冗余低功耗触发器,具有堆叠晶体管
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:H. Maruoka;M. Hifumi;J. Furuta;and K. Kobayashi
- 通讯作者:and K. Kobayashi
Evaluation of Heavy-Ion-Induced SEU Cross Sections of a 65 nm Thin BOX FD-SOI Flip-Flops Based on Stacked Inverter
基于堆叠逆变器的 65 nm 薄 BOX FD-SOI 触发器的重离子诱导 SEU 横截面评估
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:遠藤 侑介;松本 宗太郎;上野 雄大;住井 英二郎;松本 行弘;T. Ikeda and M. Nagahara;M. Watanabe;合志清一;山岡吉生;Jun Furuta
- 通讯作者:Jun Furuta
A Low-Power Radiation-Hardened Flip-Flop with Stacked Transistors in a 65 nm FDSOI Process
采用 65 nm FDSOI 工艺的具有堆叠晶体管的低功耗抗辐射触发器
- DOI:10.1587/transele.e101.c.273
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0.5
- 作者:MARUOKA Haruki;HIFUMI Masashi;FURUTA Jun;KOBAYASHI Kazutoshi
- 通讯作者:KOBAYASHI Kazutoshi
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
Kobayashi Kazutoshi其他文献
Evaluation of Soft Error Tolerance of Redundant Flip-Flop in 65nm Bulk and FD-SOI Processes.
65nm Bulk 和 FD-SOI 工艺中冗余触发器的软错误容限评估。
- DOI:
10.1109/tns.2013.2245344 - 发表时间:
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- 影响因子:1.8
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Sonezaki Eiji;K. Kubota;Masuda Masaki;Kanda Shohei;Furuta Jun;Kobayashi Kazutoshi - 通讯作者:
Kobayashi Kazutoshi
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- 影响因子:2.9
- 作者:
Kumashiro Shigetaka;Kamei Tatsuya;Hiroki Akira;Kobayashi Kazutoshi - 通讯作者:
Kobayashi Kazutoshi
Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement
通用 NBTI 紧凑型模型通过单次长期直流测量复制交流应力/恢复
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10.2197/ipsjtsldm.13.56 - 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
Hosaka Takumi;Nishizawa Shinichi;Kishida Ryo;Matsumoto Takashi;Kobayashi Kazutoshi - 通讯作者:
Kobayashi Kazutoshi
Evaluation of Soft Error Tolerance on Flip-Flop depending on 65 nm FDSOI Transistor Threshold-Voltage
根据 65 nm FDSOI 晶体管阈值电压评估触发器的软错误容限
- DOI:
- 发表时间:
2018 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Ebara Mitsunori;Maruoka Haruki;Y. Kodai;Furuta Jun;Kobayashi Kazutoshi - 通讯作者:
Kobayashi Kazutoshi
A 65 nm Low-Power Adaptive-Coupling Redundant Flip-Flop
65 nm 低功耗自适应耦合冗余触发器
- DOI:
- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
Masuda Masaki;K. Kanto;Yamamoto Ryosuke;Furuta Jun;Kobayashi Kazutoshi;O. Hidetoshi - 通讯作者:
O. Hidetoshi
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{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
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