Grundlagenuntersuchung zur Wirkungsweise von Einflüssen auf das Messergebnis in der Mikro- und Nanoprüftechnik (Weiterförderung des Projekts "Modellierung für die praxisgerechte Messunsicherheitsermittlung in der Mikro- und Nanoprüftechnik")

对微米和纳米测试技术中测量结果影响的基础研究（“微米和纳米测试技术中测量不确定度的实际测定建模”项目的进一步资助）

• 批准号: 5436121
• 负责人: Professor Dr.-Ing. Albert Weckenmann
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 2004
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2003-12-31 至 2010-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5436121?language=en
• 关键词: Grundlagenuntersuchung; zur; Wirkungsweise; von; Einfl

Die Messunsicherheitsangabe ist unverzichtbarer Teil eines vollständigen Messergebnisses. Zu ihrer Ermittlung muss, basierend auf GUM (engl.:Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement), die Auswertung des zugrunde gelegten Messprozesses mit allen wirkenden Einflüssen modelliert, die Standardunsicherheiten ermittelt und daraus die erweiterte Messunsicherheit errechnet werden. Gerade bei den Messprozessen der Mikro- und Nanotechnik fehlen Erkenntnisse, in welcher Art Einflüsse auf das Messergebnis wirken und zur Messunsicherheit beitragen. Ziel des Projektes ist das Gewinnen von Erkenntnissen zur Wirkungsweise von solchen Einflüssen bei der Erfassung von dimensionellen Messgrößen im Mikro- und Nanometerbereich, sowie das Definieren einer praxisgerechten, strukturierten, universellen Vorgehensweise für das Erstellen von Modulen zur Aufstellung des Modells der Auswertung unter einbeziehen vielfältiger messprozessspezifischer Einflüsse. Solche Module können in ein Rahmensystem eingebracht werden, welches das Unsicherheitsbudget, die kombinierte Standardunsicherheit, sowie die erweiterte Messunsicherheit ermittelt. Die gewonnenen Erkenntnisse, die Richtigkeit der Annahmen und die Tragfähigkeit der Ergebnisse werden an praktischen Anwendungen aus der optischen- und der Rastersondenmesstechnik demonstriert. Die Ergebnisdarstellung erfolgt dergestalt, dass darauf orts- und plattformunabhängig zugegriffen werden kann.

Messunsicherheitsangabe ist unverzichtbarer Teil eines vollständigen Messergebnisses。 Zu ihrer Ermittlung muss, basierend auf GUM（英语：测量不确定度表达指南），die Auswertung des zugrunde gelegten Messprozesses mit allen wirkenden Einflussen modelliert, die Standardunsicherheiten ermittelt und daraus die erweiterte Messunsicherheit 韦尔登埃雷赫内特微型和纳米技术领域的 Messprozessen 技术，在 Messergebnis wirken 和 zur Messunsicherheit beitragen 中的 welcher Art Einflüsse。项目是微观和纳米技术中的尺寸测量、实践定义、结构设计、通用设计的定义 建立模型的模块，以实现特殊的自动化流程。 Solche Module können 位于 Rahmensystem eingebracht werden 中，可实现统一预算、标准统一和统一标准。解决问题、解决问题和解决问题的方法是光学和光栅技术的实际应用。 Die Ergebnisdarstellung erfolgt dergestalt，dass darauf orts- und plattformunabhängig zugegriffen werden kann。