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Einrichtung und Methodiken zur Messung von Mikro- und Nanokräften im Bereich kleiner als 10-5 N mit einer Auflösung von 10-12 N

Einrichtung und Methodiken zur Messung von Mikro- und Nanokräften im Bereich kleiner als 10-5 N mit einer Auflösung von 10-12 N
用于测量小于 10-5 N 范围内的微力和纳米力的装置和方法,分辨率为 10-12 N
批准号:
5438151
负责人:
Dr. Uwe Brand
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2004
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2003-12-31 至 2008-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
Zur time giit es zwar internationale Forschungsaktivitäten im berich der Mikrotasterentwicklung aberkeine Arbeiten, die siich dem Antastverhalten von taktilen Sensoren bekleinen Antastkräften beschäftigen。[10] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1]Anhand eines Scheibenpendels mit elektrostatischer Reduzierung der Steifigkeit kann man eine quasistatische Kraft im Bereich kleiner als 10-5 N mit einer Kraftauflösung von 10-12 N messen。Das vorgeschlagene functionsschema basiert auf einem Aluminiumscheibenpendel zwischen zwei äußeren parallelen Platten, die mit dem Aluminiumscheibenpendel zwei platattenkondensatoreen bilden。荷兰angelegte elektrische Spannungen and den Kondensatoren wind einstellbare Steifigkeit des Pendels ermöglicht。参考文献:水平测量技术与测量技术Kräfte fhren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren - eren干涉测量技术与测量技术。diesprinzips bietet einen sonders grogroen steifigkeitseinstellberich ich - durch die Variation der elektrischen Spannung aufden Kondensatorplatten。
英文摘要
Zur Zeit gibt es zwar internationale Forschungsaktivitäten im Bereich der Mikrotasterentwicklung aber keine Arbeiten, die sich mit dem Antastverhalten von taktilen Sensoren bei kleinen Antastkräften beschäftigen. Die Nachfrage nach Messtechnik für die Darstellung von Kräften im Bereich kleiner als 10-6 N ist daher augenblicklich sehr groß. Anhand eines Scheibenpendels mit elektrostatischer Reduzierung der Steifigkeit kann man eine quasistatische Kraft im Bereich kleiner als 10-5 N mit einer Kraftauflösung von 10-12 N messen. Das vorgeschlagene Funktionsschema basiert auf einem Aluminiumscheibenpendel zwischen zwei äußeren parallelen Platten, die mit dem Aluminiumscheibenpendel zwei Plattenkondensatoren bilden. Durch angelegte elektrische Spannungen an den Kondensatoren wird eine einstellbare Steifigkeit des Pendels ermöglicht. Die zu messenden horizontalen Kräfte führen zu einer Auslenkung des Scheibenpendels, die mit einem Regler bestehend aus interferometrischer Auslenkungsmessung und elektrostatischer Gegenkrafterzeugung, kompensiert wird. Dieses Prinzips bietet einen besonders großen Steifigkeitseinstellbereich nur durch die Variation der elektrischen Spannung auf den Kondensatorplatten.
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