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Development of technical platform for estimation of muon-induced soft error rates in semiconductor devices

开发用于估计半导体器件中μ介子引起的软错误率的技术平台

基本信息

批准号：
16H03906
负责人：
Watanabe Yukinobu
金额：
$ 11.98万
依托单位：
Kyushu University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（0）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

DCミューオンビームを用いたSEU断面積測定

使用 DC μ 子束进行 SEU 横截面积测量

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
馬原巧;渡辺幸信;真鍋征也;廖望;橋本昌宜;齋藤岳志;新倉潤;友野大;佐藤朗;二宮和彦
通讯作者：
二宮和彦

低エネルギーミューオンの計測手法開発

低能μ子测量方法的开发

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
佐藤光流;金政浩; 渡辺幸信
通讯作者：
渡辺幸信

低エネルギー宇宙線ミュオンスペクトルの計測手法開発

低能宇宙线μ子谱测量方法的研制

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
佐藤光流;金政浩;渡辺幸信
通讯作者：
渡辺幸信

Momentum and Supply Voltage Dependences of SEUs Induced by Low-energy Negative and Positive Muons in 65-nm UTBB-SOI SRAMs

65 nm UTBB-SOI SRAM 中低能负 μ 子和正 μ 子引起的 SEU 动量和电源电压依赖性

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
Seiya Manabe;Yukinobu Watanabe;Wang Liao;Masanori Hashimoto;Keita Nakano;Hikaru Sato;Tadahiro Kin;Koji Hamada;Motonobu Tampo;Yasuhiro Miyake
通讯作者：
Yasuhiro Miyake

65-nm SOTB SRAMにおける低エネルギー正負ミュオン誘起SEU断面積の測定

65 nm SOTB SRAM 中低能正负 μ 介子诱导 SEU 横截面的测量

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
真鍋征也;渡辺幸信;中野敬太;佐藤光流;金政浩;廖　望;橋本昌宜;濱田幸司;反保元伸;三宅康博
通讯作者：
三宅康博

DOI：
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作者：
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Watanabe Yukinobu其他文献

Irradiation Test of 65-nm Bulk SRAMs With DC Muon Beam at RCNP-MuSIC Facility

在 RCNP-MuSIC 设施中使用 DC Mu 子束对 65 nm Bulk SRAM 进行辐照测试

DOI：
10.1109/tns.2020.2972022
发表时间：
2020
期刊：
IEEE Transactions on Nuclear Science
影响因子：
1.8
作者：
Mahara Takumi;Manabe Seiya;Watanabe Yukinobu;Liao Wang;Hashimoto Masanori;Saito Takeshi Y.;Niikura Megumi;Ninomiya Kazuhiko;Tomono Dai;Sato Akira
通讯作者：
Sato Akira

Isotope production in proton-, deuteron-, and carbon-induced reactions on Nb93 at 113 MeV/nucleon

Nb93 上 113 MeV/核子的质子、氘核和碳诱导反应中的同位素产生

DOI：
10.1103/physrevc.100.044605
发表时间：
2019
期刊：
Physical Review C
影响因子：
3.1
作者：
Nakano Keita;Watanabe Yukinobu;Kawase Shoichiro;Kondo Yosuke et al.
通讯作者：
Kondo Yosuke et al.

Spectroscopic approach to Galactic Archaeology with Subaru

与斯巴鲁一起进行银河考古学的光谱方法

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
Nakano Keita;Watanabe Yukinobu;Kawase Shoichiro;Kondo Yosuke et al.;Wako Aoki
通讯作者：
Wako Aoki

Impact of the Angle of Incidence on Negative Muon-Induced SEU Cross Sections of 65-nm Bulk and FDSOI SRAMs

入射角对 65 nm Bulk 和 FDSOI SRAM 的负 μ 子诱导 SEU 横截面的影响

DOI：
10.1109/tns.2020.2976125
发表时间：
2020
期刊：
IEEE Transactions on Nuclear Science
影响因子：
1.8
作者：
Liao Wang;Hashimoto Masanori;Manabe Seiya;Watanabe Yukinobu;Abe Shin-ichiro;Tampo Motonobu;Takeshita Soshi;Miyake Yasuhiro
通讯作者：
Miyake Yasuhiro