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Neues Thema: Diamant FET Strukturen, Analyse ausstehender Basisprobleme Altes Thema:Entwicklung von Feldeffekt-Tansistorstrukturen auf Diamantbasis

Neues Thema: Diamant FET Strukturen, Analyse ausstehender Basisprobleme Altes Thema:Entwicklung von Feldeffekt-Tansistorstrukturen auf Diamantbasis
新主题:金刚石FET结构,突出基础问题分析 旧主题:金刚石基场效应晶体管结构的发展
批准号:
5443638
负责人:
Professor Dr.-Ing. Erhard Kohn
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2004
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2003-12-31 至 2010-12-31

项目摘要

项目成果

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Die vorgesehenen Arbeiten sind eine Fortführung bisheriger Arbeiten, um die Grundlagen zur Entwicklung einer Diamantelektronik weiter voranzutreiben. In Vorarbeiten konnte gezeigt werden, dass FET-Strukturen bei hoher Frequenz im GHz-Bereich betrieben werden können. Simulationsabschätzungen zeigen darüber hinaus, dass mit diskreten FET-Bauelementen auf Diamantbasis hohe RF-Leistungen (oberhalb derer von FETs auf GaN-Basis) erwartet werden können. Ein wesentliches Merkmal hier ist die hohe Wärmeleitfähigkeit des integrierten Diamantwärmespreizers. Im beantragten Vorhaben sollen die bisher erzielten Einzelergebnisse konzentriert und in optimierten Bauelementestrukturen (FETS) eingesetzt werden. Die Arbeiten sollen sich dabei auf MESFET-Strukturen mit Oberflächenkanal (auf H-abgesättigter Oberfläche) konzentrieren. Die Leistungsdichte liegt derzeit etwa 2 Größenordnungen unter der theoretisch erwarteten. Hier soll das neue Vorhaben mit neuen technologischen Fragestellungen ansetzen. Dazu gehören neue Ideen der Oberflächenbehandlung zur Erzeugung und Stabilisierung des wasserstoff-induzierten Oberflächenkanals wie die Absättigung mit Fullerenen und Jodkomplexen. (Hier sollen auch unsere Erfahrungen aus der elektrochemischen Oberflächenanalyse einfließen.) Das Diamantmaterial betreffend sollen neben eigenen Epitaxieschichten auf käuflichen Substraten auch Substrate oder Pufferschichten hoher Qualität anderer Labors eingesetzt werden. Zusätzlich soll eine Passivierung entwickelt werden, die es erlaubt, FeldplattenKonzepte einzusetzen. Mit einer auf diese Art optimierten FET-Struktur sollen hohe Mikrowellenleistungsdichten realisiert werden.
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