A Reduction Technique for Temporal-Spatial Vth Variations and Leakage in a Coordinated Manner for SRAM-ReRAM Stacked Memories

一种以协调方式减少 SRAM-ReRAM 堆叠存储器时空 Vth 变化和泄漏的技术

• 批准号: 26420326
• 负责人: Yamauchi Hiroyuki
• 金额: $ 3.33万
• 依托单位: Fukuoka Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26420326/
• 关键词: SRAM; ReRAM; 時空間ランダムばらつき; デコンボリューション; 時空間ばらつき; 改良リチャードソンルーシー; 逆畳み込み解析のアルゴリズム; リチャードソンルーシーの改良

项目成果

Ringing Error Prevention Techniques in Lucy-Richardson Deconvolution Process for SRAM Space-Time Margin Variation Effect Screening Designs

SRAM 时空裕度变化效应筛选设计的 Lucy-Richardson 反卷积过程中的振铃错误预防技术

• DOI: 10.1109/latw.2015.7102402
• 发表时间: 2015
• 期刊: IEEE The Latin-American Test Symposium (LATS)
• 作者: Hiroyuki Yamauchi;Worawit Somha
• 通讯作者: Worawit Somha

A Phase Shifting Multiple Filter Design Methodology for Lucy-Richardson Deconvolution of Log-Mixtures Complex RTN Tail Distribution

用于对数混合复杂 RTN 尾分布 Lucy-Richardson 反卷积的相移多重滤波器设计方法

• DOI: 10.1145/2800986.2800996
• 发表时间: 2015
• 期刊: IEEE 28th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design SBCCI2015
• 作者: Hiroyuki Yamauchi;Worawit Somha
• 通讯作者: Worawit Somha

An Adaptively Segmented Forward Problem Based Non-Blind Deconvolution Technique for Analyzing SRAM Margin Variation Effects

基于自适应分段前向问题的非盲反卷积技术分析 SRAM 裕度变化效应

• DOI: 10.5573/jsts.2014.14.4.365
• 发表时间: 2014
• 期刊: Journal of Semiconductor Technology and Science
• 影响因子: 0.4
• 作者: 山内潤治;高木雄平;中野久松;Worawit Somha and Hiroyuki Yamauchi
• 通讯作者: Worawit Somha and Hiroyuki Yamauchi

A parallel filter technique to stabilize error-rectification behavior in RDF deconvolution process for SRAM screening test

一种并行滤波器技术，用于稳定 RDF 反卷积过程中的错误纠正行为，用于 SRAM 筛选测试

• 发表时间: 2016
• 期刊: IEEE technical-co-sponsored SAI Computing Conference
• 作者: Hiroyuki Yamauchi;Worawit Somha
• 通讯作者: Worawit Somha

Comparative study on deconvolution function dependencies of RTN/RDF effect estimation errors in analyzing sub-nm-scaled SRAM margins

分析亚纳米级 SRAM 余量时 RTN/RDF 效应估计误差的反卷积函数依赖性的比较研究

• 发表时间: 2014
• 作者: 伊原佑介;山内潤治;中野久松;Hiroyuki Yamauchi and Worawit Somha
• 通讯作者: Hiroyuki Yamauchi and Worawit Somha