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Nanoscale characterisation of nitride semiconductor thin films using EBSD, ECCI, CL and EBIC

Nanoscale characterisation of nitride semiconductor thin films using EBSD, ECCI, CL and EBIC
使用 EBSD、ECCI、CL 和 EBIC 对氮化物半导体薄膜进行纳米级表征
批准号：
EP/J016098/1
负责人：
Angus Wilkinson
金额：
$44.01万
依托单位：
University of Oxford
依托单位国家：
英国
项目类别：
Research Grant
财政年份：
2012
资助国家：
英国
项目状态：
已结题
起止时间：
2012 至 --
来源：
https://gtr.ukri.org/projects?ref=EP%2FJ016098%2F1
关键词：
Nanoscalecharacterisationnitridesemiconductorthin

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会议论文
Electron Channeling Contrast Imaging of Defects in III-Nitride Semiconductors
III 族氮化物半导体缺陷的电子沟道对比成像
DOI： 10.1017/s1431927614006849
发表时间： 2014
期刊： Microscopy and Microanalysis
影响因子： 2.8
作者： [Trager-Cowan C]
通讯作者： Trager-Cowan C
Non-destructive imaging of residual strains in GaN and their effect on optical and electrical properties using correlative light-electron microscopy
DOI： 10.1063/5.0080024
发表时间： 2022-02-21
期刊： JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
影响因子： 3.2
作者： [Naresh-Kumar, G., Edwards, P. R., Trager-Cowan, C.]
通讯作者： Trager-Cowan, C.
Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction.
DOI： 10.1038/s41598-017-11187-z
发表时间： 2017-09-07
期刊： Scientific reports
影响因子： 4.6
作者： [Naresh-Kumar G, Vilalta-Clemente A, Jussila H, Winkelmann A, Nolze G, Vespucci S, Nagarajan S, Wilkinson AJ, Trager-Cowan C]
通讯作者： Trager-Cowan C
A synchrotron X-ray diffraction study of non-proportional strain-path effects
非比例应变路径效应的同步加速器 X 射线衍射研究
DOI： 10.1016/j.actamat.2016.11.011
发表时间： 2017
期刊： Acta Materialia
影响因子： 9.4
作者： [Collins D]
通讯作者： Collins D
共 9 条
    Exploring the Synthesis and Properties of Hybrid Perovskites with a "Gas" Atom, or Molecule, as a Structural Component
    • 批准号：
      2002739
    • 项目类别：
      Standard Grant
    • 资助金额：
      $44.68万
    • 财政年份：
      2020
    • 负责人：
      Angus Wilkinson
    • 依托单位：
      Georgia Tech Research Corporation
    From Negative to Zero Thermal Expansion IR Transparent Materials Using the Defect Chemistry of ReO3-Type Fluorides
    • 批准号：
      1607316
    • 项目类别：
      Standard Grant
    • 资助金额：
      $30.44万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      Angus Wilkinson
    • 依托单位：
      Georgia Tech Research Corporation
    Miniature Ultrasonic Fatigue Analysis of Local Modified Regions near Welds and Surfaces in Ti alloys
    • 批准号：
      EP/N033930/1
    • 项目类别：
      Research Grant
    • 资助金额：
      $62.03万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      Angus Wilkinson
    • 依托单位：
      University of Oxford
    The Influence of Nanostructure and Pressure on the Properties of Low and Negative Thermal Expansion Materials
    • 批准号：
      0905842
    • 项目类别：
      Continuing Grant
    • 资助金额：
      $43.3万
    • 财政年份：
      2009
    • 负责人：
      Angus Wilkinson
    • 依托单位：
      Georgia Tech Research Corporation
    海外基金