课题基金 / 基金详情

Combined Scanning Kelvin Probe Force Microscopy and Scanning Maxwell Stress Microscopy for Improved Semiconductor Dopant Profiling

Combined Scanning Kelvin Probe Force Microscopy and Scanning Maxwell Stress Microscopy for Improved Semiconductor Dopant Profiling
结合扫描开尔文探针力显微镜和扫描麦克斯韦应力显微镜以改进半导体掺杂剂分析
批准号：
447045-2013
负责人：
Grutter, Peter
金额：
$1.82万
依托单位：
McGill University
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Engage Grants Program
财政年份：
2013
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-01-01 至 2014-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=536673
关键词：
CombinedScanningKelvinProbeForce

项目摘要

项目成果

Grutter, Peter的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
The goal of this Engage Grant is to develop, compare and transfer techniques that may offer substantial
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Scanning Probe Microscopy development and applications for time resolved structure-function studies
  • 批准号：
    RGPIN-2021-02666
  • 项目类别：
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额：
    $4.44万
  • 财政年份：
    2022
  • 负责人：
    Grutter, Peter
  • 依托单位：
    McGill University
Canada-UK Quantum Technologies call: Scanning Probe Fabrication and Readout of Atomically Precise Silicon Quantum Technologies
  • 批准号：
    556313-2020
  • 项目类别：
    Alliance Grants
  • 资助金额：
    $2.91万
  • 财政年份：
    2021
  • 负责人：
    Grutter, Peter
  • 依托单位：
    McGill University
Scanning Probe Microscopy development and applications for time resolved structure-function studies
  • 批准号：
    RGPIN-2021-02666
  • 项目类别：
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额：
    $4.44万
  • 财政年份：
    2021
  • 负责人：
    Grutter, Peter
  • 依托单位：
    McGill University
Canada-UK Quantum Technologies call: Scanning Probe Fabrication and Readout of Atomically Precise Silicon Quantum Technologies
  • 批准号：
    556313-2020
  • 项目类别：
    Alliance Grants
  • 资助金额：
    $2.91万
  • 财政年份：
    2020
  • 负责人：
    Grutter, Peter
  • 依托单位：
    McGill University
海外基金