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Scanning Probe Microscopy for fundamental studies in nanoscience
用于纳米科学基础研究的扫描探针显微镜
基本信息
- 批准号：RGPIN-2016-05033
- 负责人：
- 金额：$ 5.39万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Discovery Grants Program - Individual
- 财政年份：2017
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2017-01-01 至 2018-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
The atomic force microscope (AFM) is an ideal tool for Nanoscience, as it allows imaging, manipulation and characterization of individual nanometer sized objects.
原子力显微镜（AFM）是纳米科学的理想工具，因为它允许成像，操纵和表征单个纳米尺寸的物体。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
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$ 5.39万 - 项目类别：
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- 批准号：
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- 资助金额：
$ 5.39万 - 项目类别：
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Scanning Probe Microscopy for fundamental studies in nanoscience
用于纳米科学基础研究的扫描探针显微镜
- 批准号：
RGPIN-2016-05033 - 财政年份：2016
- 资助金额：
$ 5.39万 - 项目类别：
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Scanning probe microscopy for fundamental studies in nanoscience
用于纳米科学基础研究的扫描探针显微镜
- 批准号：
155843-2011 - 财政年份：2015
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$ 5.39万 - 项目类别：
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