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Characterization of Implanted Selenium in Silicon Wafers
硅片中注入硒的表征
基本信息
- 批准号：511053-2017
- 负责人：
- 金额：$ 1.27万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Alexander Graham Bell Canada Graduate Scholarships - Master's
- 财政年份：2017
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2017-01-01 至 2018-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
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项目成果
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DeAbreu, Adam其他文献
Characterization of the Si:Se+ Spin-Photon Interface
- DOI：
10.1103/physrevapplied.11.044036 - 发表时间：
2019-04-11 - 期刊：
- 影响因子：4.6
- 作者：
DeAbreu, Adam;Bowness, Camille;Simmons, Stephanie - 通讯作者：
Simmons, Stephanie
DeAbreu, Adam的其他文献
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{{ truncateString('DeAbreu, Adam', 18)}}的其他基金
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$ 1.27万 - 项目类别：
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$ 1.27万 - 项目类别：
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超越 theta：分析植入传感脉冲发生器的肌张力障碍患者的整个频谱振荡
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10569467 - 财政年份：2023
- 资助金额：
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EAGER：一种在垂直氮化镓器件中高度激活注入 p 型区域的新途径。
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大脑植入电极界面的空间转录组学
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X-ray Visualized Implanted Sensor for Prosthetic Joint Infection (X-VIS-PJI)
用于假体关节感染的 X 射线可视化植入传感器 (X-VIS-PJI)
- 批准号：
10547368 - 财政年份：2022
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