Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer-Technologien

ZIELL DES PROJEKTS是一种创新的纳米技术集成系统。这是一个很重要的问题，我不知道怎么做，我不知道怎么做，也不知道怎么做，也不知道怎么做才好。Dazu müssen Mehr ALS Bisher在DAS系统集成中进行了诊断，并进行了故障修复。我是Rahman des Projekts，我是dazu für Digitale System de Grundlagen geschaffen。从这里开始，我的生活开始变得更加美好。DARAUF AUFBAUEND是一种软件开发算法，用于诊断测试。AUF硬件设置了Bausteine für die诊断基础设施和DEM芯片(基础设施IP)，其中包括诊断模块和诊断模块，以及分析软件。

Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Untersuchung innovativer eingebetteter Diagnoseverfahren für integrierte Systeme in Nanometer Technologie. Da hier mit sehr großen Prozessschwankungen, anfänglich sehr geringen Ausbeuten und einer erhöhten Störanfälligkeit im Betrieb zu rechnen ist, sind effiziente Diagnoseverfahren unabdingbar, um integrierte Systeme mit vertretbaren Kosten schnell zur Marktreife zu bringen und einen stabilen, zuverlässigen Einsatz zu gewährleisten. Dazu müssen mehr als bisher Diagnoseeinrichtungen mit in das System integriert werden (¿Built-in Diagnosis¿) und gegebenenfalls auch Reparaturmöglichkeiten vorgesehen werden (¿Built-in Repair¿). Im Rahmen des Projekts werden dazu für digitale Systemkomponenten die Grundlagen geschaffen. Startpunkt ist die Auswahl bzw. Entwicklung von geeigneten Fehlermodellen. Darauf aufbauend werden auf Software Seite Algorithmen zur Bestimmung diagnostischer Tests entworfen. Auf Hardware Seite werden die Bausteine für die Diagnoseinfrastruktur auf dem Chip (¿Infrastructure IP¿) entworfen und Module zur Erzeugung der Diagnosestimuli, zur Auswertung der Antworten und zur Analyse von Reparaturmöglichkeiten entwickelt.