Charakterisierung von Heterostrukturen aus Gruppe-III-Nitriden mit resonanter Brillouin- und Rayleighstreuung

为了实现基于III族氮化物的激光和光子学元件，我们采用了基于材料的Halbleiter-Epitaxieschichten和Quantenfilmstrukturen的光学和结构特征。Zur Charakterisierung der exzitonischen Anregungszustände und ihrer Beeinflussung durch die strukturellen Parameter soll die Method der zeitaufgelösten resonanten eingesetzt韦尔登.利用谐振腔布里渊散射的方法，对谐振腔的色散及其在谐振腔中的传播影响进行了研究，分析了光电材料参数，如电子谐振腔、谐振腔和谐振腔的拉格效应。结构参数中的局部激励器，如阻尼器、阻尼器和阻尼器，在韦尔登细节上具有共振瑞利-斯特朗效应，通过流强度的Winkelabhängigkeit，可以通过一个傅立叶变换估计韦尔登的局部激励函数。Der Einquiry zeitauflösender Meßtechniken erlaubt die Untersuchung der Phasen- und Energierelaxationsprozesse der relevanten elektronischen Zustände，die für die Modellierung des dynamischen Verhaltens photonischer Bauelemente benötigt韦尔登.

Für die Realisierung von Lasern und anderen photonischen Bauelementen auf der Basis von Gruppe III-Nitriden entscheidend sind die optischen und strukturellen Eigenschaften von dünnen Halbleiter-Epitaxieschichten und Quantenfilmstrukturen aus diesen Materialien. Zur Charakterisierung der exzitonischen Anregungszustände und ihrer Beeinflussung durch die strukturellen Parameter soll die Methode der zeitaufgelösten resonanten Lichtstreuung eingesetzt werden. Die Dispersion der exzitonischen Zustände und ihre Beeinflussung durch die Verspannung in den Schichten wird dabei mit Hilfe von resonanter BrillouinStreuung bestimmt, die Analyse liefert wichtige optoelektronische Materialparameter, wie Lage der elektronischen Resonanzen, Oszillatorstärken und Exzitonenmassen. Die Auswirkung lokaler Fluktuationen in den strukturellen Parametern, wie beispielsweise Versetzungen, Punktdefekte und Grenzflächenrauhigkeiten, können mit resonanter Rayleigh-Streuung im Detail aufgeklärt werden, wobei aus der Winkelabhängigkeit der Streuintensität über eine Fouriertransformation die räumliche Korrelationsfunktion der Fluktuationen bestimmt werden kann. Der Einsatz zeitauflösender Meßtechniken erlaubt die Untersuchung der Phasen- und Energierelaxationsprozesse der relevanten elektronischen Zustände, die für die Modellierung des dynamischen Verhaltens photonischer Bauelemente benötigt werden.