Electron-emitting perovskite tips fpr innovative material evaluation

铁磁性材料(FE)铁磁性材料(FM)是铁磁性材料。除了L教授，Z.B.PbTi1-xMnxo3外，还包括钙钛矿、钙钛矿和钙钛矿。在Mikroskopie，Entwickrunneuartiger Analysefahren。在此之前，我们将为您提供最好的服务，以满足您的需求。Für die Untersuhugen soll das Emissionsspecktrum Bezüglich Energie，Feldveilung and Polpolation(elektrisch bzw.Magtisch)analysiert and handessenen elektronischen zuStandsdichte Model iert.Weiterhi soll der Eifu？von Punktdefktgradieten and Schichtspannungen auf das Polilations-bzw.Magnetisierungsprofilin den Spitzen Sowie die Wirkung der Polarpolation，z.B.Biem Umschalten(Switting)der Polpolation，aufgeklärt Wenden。所有的电子发射器都是由电子发射器和电子发射器组成的，这些传感器都是用来分析和修改传感器的，这些传感器都是用来分析和修改的。

Ziel des Teilprojektes ist die Herstellung von Spitzen für die hocherergetischer und spinpolarisierter Elektronen aus ferroelektrischen (FE) bzw. ferromagnetischen (FM) Perowskitschichten. Durch Einbeziehung fester Lösungen, z.B. PbTi1-xMnxo3, in die Untersuchungen, sollen gezielt Perowskite gesucht werden, bei denen gleichzeitig eine FE und FM Ordnung vorliegt. Dies ermöglicht die Entwicklung neuartiger Analyseverfahren in der Mikroskopie. Dazu soll ein Verfahren für die Herstellung von Dünnschichtspitzen mit Nanometer-Spitzenradius entwickelt werden., mit welchem die Elektronenmission durch einen geeigneten Aufbau mit Elektronen an der Spitze steuerbar wird. Für die Untersuchungen soll das Emissionsspektrum bezüglich Energie, Feldverteilung und Polarisation (elektrisch bzw. magnetisch) analysiert und anhand der gemessenen elektronischen Zustandsdichte modeliert werden. Weiterhi soll der Einfluß von Punktdefektgradieten und Schichtspannungen auf das Polarisations- bzw. Magnetisierungsprofil in den Spitzen sowie die Wirkung der Polarisation, z.B. beim Umschalten (Switching) der Polarisation, aufgeklärt werden. Anwendungen solcher Elektronenemitter sollen in der spinpolarisierten Elektronenmikroskopoie, in Atomkraft-mikroskopen, die gleichzeitig Topographie und chemische Zusammensetzung bestimmen können, sowie zur Analyse und Modifikation im Sinne eines lokalen Sensors oder einer lokalen Quelle in der Rastersondenmikroskopie sein.