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Mehrskalige Bestimmung von Adhäsions- und Reibkräften an Metalloxiden mit Metall-Isolator-Übergang und verschiedener Stöchiometrie

Mehrskalige Bestimmung von Adhäsions- und Reibkräften an Metalloxiden mit Metall-Isolator-Übergang und verschiedener Stöchiometrie
具有金属-绝缘体转变和不同化学计量的金属氧化物上的粘附力和摩擦力的多尺度测定
批准号:
190439712
负责人:
Dr. Heinz Kloß
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2010
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2009-12-31 至 2011-12-31

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项目成果

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Die Grundmechanismen der Festkörperreibung sind Deformation und Adhäsion. Diese Grundmechanismen sind unter anderem abhängig von der Temperatur des Festkörpers. Einige Stöchiometrien von Metalloxiden zeigen bei Variation der Temperatur reversible Metall-Isolator-Übergänge (engl. Metall-Insulator-Transition, MIT) der elektrischen Leitfähigkeit. Eigene Adhäsionsmessungen auf Magnéli-Phasen des Vanadiumoxids zeigten ein unterschiedliches Adhäsionsverhalten vor und nach dem MIT. Damit sollte eine gezielte Beeinflussung des Reibverhaltens durch die Variation des MIT möglich sein. Ziel des Projektes ist eine temperaturabhängige experimentelle Analyse und analytische Beschreibung des Adhäsions- und Reibverhaltens von Metalloxiden ausgewählter Stöchiometrien mit einem Metall-Isolator-Übergang. Vanadiumoxide stellen das erste Stoffsystem dar, weil hier erste Erfahrungen aus früheren Experimenten vorliegen. In einem Folgeantrag soll gegebenenfalls überprüft werden, ob die Ergebnisse für weitere Metalloxide und andere Stoffsysteme anwendbar sind. Die experimentelle Bestimmung der Wechselwirkungen, der Kontaktoberflächen bei Temperaturen um den jeweiligen MIT, ist hier von entscheidender Bedeutung. Für eine definierte Kontaktgeometrie (Kugel-Ebene) bei weitgehender Vernachlässigung des Einflusses von Verschleißteilchen (elastischer Kontakt) und bei kontrollierten Umgebungsbedingungen werden die Versuche mehrheitlich im Ultrahochvakuum (UHV) mit möglichst atomar reinen Kontaktflächen ausgeführt. Eine Erdung und Versuchsapparaturen mit einer magnetischen Abschirmung (μ-Metall) sollen externe elektrostatische oder magnetische Einflüsse reduzieren. Für die mehrskalige Analyse werden im Nanobereich ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Adhäsionsmessung und ein Lateralkraftmikroskop (LFM) zur Reibkraftmessung verwendet. Diese Untersuchungen werden zu parallel auszuführenden makroskopischen Reibversuchen an einem patentierten UHV-Tribometer in Bezug gesetzt. Dieses UHV-Tribometer ermöglicht innerhalb des Vakuums einen Proben- und Lastwechsel. Die tribologische Untersuchungen können so direkt ohne störende atmosphärische Einflüsse, sei es während der Messung oder bei Proben- und Lastwechsel, durchgeführt werden.
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Determination of adhesion forces with an AFM
Zusammenhang zwischen Adhäsion und Kontaktfläche und deren Bedeutung für die Haftreibung
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