A Multi-Level Test Approach for Improving Reliability and Performance of Nanometer Technology Designs

提高纳米技术设计可靠性和性能的多级测试方法

基本信息

  • 批准号:
    1565404
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 8.02万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Continuing Grant
  • 财政年份:
    2015
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    2015-07-22 至 2017-05-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

Circuit reliability, process variations, and environmental variations have become major challenges to address in advanced integrated circuit designs, especially for parts deployed in critical-life applications such as automotive, medical devices, aerospace, etc. The goal of this project is to develop novel and efficient test infrastructures, multi-level test approaches, and methods to eliminate wasteful guardband for improving performance and reliability of the circuit throughout its lifetime operation under any workload. The intellectual merits include (1) design of new test and measurement infrastructure while targeting aging, minimum available slack, noise, and timing uncertainties in the circuit, (2) generation of test patterns considering different noise/workload conditions on target paths and selection of paths to be targeted for test and reliability analysis, (3) analyzing the measurement data at three different levels, namely manufacturing test and silicon validation, system bring up, and in-the-field test, and finally (4) analyzing data collected from a SOC design fabricated in an advanced technology node. This project will lead to reduced design re-spin and shrinking gap between manufacturing test and system test, thereby lowering manufacturing cost. The results of this project will alleviate debugging and diagnosis problems. Resulting benefits for society include: (i) more reliable electronic systems for critical applications; (ii) cheaper and more dependable computing platforms; (iii) realization of the much sought-after goal of "zero defects" in the field for automotive, medical, and space applications. Students involved in this research will be prepared for the semiconductor industry workforce.
电路可靠性、工艺变化和环境变化已成为先进集成电路设计中需要解决的主要挑战,特别是对于部署在关键寿命应用(如汽车、医疗设备、航空航天等)中的部件。以及消除浪费的保护带以提高电路在任何工作负载下的整个寿命操作期间的性能和可靠性的方法。智能优点包括(1)针对电路中的老化、最小可用松弛、噪声和定时不确定性设计新的测试和测量基础设施,(2)考虑目标路径上的不同噪声/工作负载条件和选择要针对测试和可靠性分析的路径来生成测试模式,(3)在三个不同级别上分析测量数据,即制造测试和硅验证、系统启动和现场测试,以及最后(4)分析从在先进技术节点中制造的SOC设计收集的数据。该项目将减少设计返工,缩小制造测试和系统测试之间的差距,从而降低制造成本。该项目的结果将减轻调试和诊断问题。由此产生的社会效益包括:(i)为关键应用提供更可靠的电子系统;(ii)更便宜和更可靠的计算平台;(iii)在汽车、医疗和空间应用领域实现备受追捧的“零缺陷”目标。参与这项研究的学生将为半导体行业的劳动力做好准备。

项目成果

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    10017683
  • 财政年份:
    2019
  • 资助金额:
    $ 8.02万
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知道了