Neuartige Charakterisierung von massiven Einkristallen (Metalle, Halbleiter, intermetallische Verbindungen, organische Kristalle, Ionenkristalle) mittels kombinierten Einsatzes der Röntgenschattenmikroskopie und der Pseudo-KOSSEL-Durchstrahltechnik mit ha

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Ziel der Arbeiten dieses Antrages ist die völlig neue, zerstörungsfreie Charakterisierung der Güte von massiven Einkristallen (Metalle, Halbleiter, intermetallische Verbindungen, organische Kristalle, lonenkristalle) mittels kombinierten Einsatzes der Röntgenschattenmikroskopie und der Pseudo-KOSSEL-Durchstrahl-Technik mit harter Röntgenstrahlung durch die vergrößerte Abbildung radiographischer und kristallographischer Informationen gleichzeitig in einer Röntgenaufnahme (patentwürdig!). Weiterhin soll ein bisher unbekannter, die Methodik aber erst ermöglichender Beugungsmechanismus als Grundlagenuntersuchung aufgeklart werden. Die Untersuchungen mit der neuen Methode sollen insbesondere an intermetallischen Verbindungen, wie NiAl sowie CMSX-4/-6 (Turbinenschaufelwerkstoffe), TbNi2B2C, HoNi2B2C (Supraleiter), Ce2CoSi3-Einkristallen (für SFB 463) und an massiven schmelztexturierten YBCO-Hochtemperatur-Supraleitern (Prototypen des IFW Dresden mit den derzeit weltbesten Leistungsparametern) durchgeführt werden. Bei letzteren ist die notwendige Erhöhung der kritischen Stromdichte begrenzt, da derzeitig keine direkten Informationen über den Zusammenhang von Prozessparametern, Zusammensetzung und der Realstruktur großer YBa2Cu3O6-7-Platten (( ( 50 mm) zur Verfügung stehen. Die zu erarbeitende Röntgenmethodik würde einen wesentlichen Beitrag zur Aufklärung des Zusammenhanges zwischen ausgewählten physikalischen Eigenschaften und der physikalischen und chemischen Realstruktur bei den genannten Werkstoffen liefern.