Gepulster nichtlinearer Vektor-Netzwerkanalysator

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Bei völlig neuartigen (z.B. Nanodraht- und -röhren-basierten) sowie fortschrittlichen konventionellen (z.B. SiGeC- und InP-basierten) Halbleitertechnologien leiden die Transistoreigenschaften unter Hysterese-Effekten, die durch Traps und Selbsterwärmung verursacht werden. Diese Effekte verhindern die Messung konsistenter Klein- und Großsignal-Kennliniendaten in den für Schaltungsanwendungen (z.B. in Leistungsverstärkern der Nachrichtentechnik) relevanten Betriebsbereichen, wenn nicht spezielle Messgeräte und -verfahren eingesetzt werden. Zu letzteren gehört die gepulste Aufnahme von nichtlinearen (d.h. Großsignal-) Kennlinien bei sehr geringen Duty-Cycles und im GHz-Frequenzbereich, die mit den zur Zeit an der TUD vorhandenen Messgeräten, die teilweise vom entsprechenden Hersteller nicht einmal mehr unterstützt werden, nicht möglich ist. In den letzten Jahren ist speziell für die o.a. Aufgabe von einem der Gerätehersteller ein kompakter Vektor- Netzwerkanalysator entwickelt worden, der auch die an die Genauigkeit gestellten Anforderungen erfüllt. Ein solches Gerät wird hier in seiner Grundversion beantragt. Das Gerät wird für Arbeiten in mehreren Forschungsprojekten (u.a. CfAED, EU IP DOTSEVEN) benötigt, in denen sowohl das Grundverständnis für die auftretenden physikalischen Effekte untersucht als auch Transistormodelle für den Schaltungsentwurf und zur Unterstützung der Technologieentwicklung entwickelt werden sollen.