Nondestructive Measurement Method for Depth Profile of Nonlinear Dielectric Properties and Domain Structure in Piezoelectric Devices

压电器件非线性介电特性和畴结构深度剖面的无损测量方法

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Measurement of Polarization-Inverted Structure in Layered Piezoelectric Material Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
使用扫描非线性介电显微镜测量层状压电材料中的极化反转结构
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka　and Yasuo Cho
  • 通讯作者：
    Yohei Tanaka　and Yasuo Cho
Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
使用扫描非线性介电显微镜无损测量双层压电极性反转结构
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka;Yasuo Cho
  • 通讯作者：
    Yasuo Cho
Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip
软探针扫描非线性介电显微镜测量极性反转层状结构深度剖面的方法
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka;Yasuo Cho
  • 通讯作者：
    Yasuo Cho
Application of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for various piezoelectric domain measurement
扫描非线性介电显微镜在各种压电域测量中的应用
  • DOI：
  • 发表时间：
    2020
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    T. Yokoyama;N. Hirata;H. Tsunoyama;T. Eguchi;Y. Negishi;A. Nakajima;Hiroyuki Odagawa
  • 通讯作者：
    Hiroyuki Odagawa
Application of scanning nonlinear dielectric microscopy for various piezoelectric domain structure measurement
扫描非线性介电显微镜在各种压电畴结构测量中的应用
  • DOI：
  • 发表时间：
    2020
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Yukawa R.;Minohara M.;Shiga D.;Kitamura M.;Mitsuhashi T.;Kobayashi M.;Horiba K.;Kumigashira H.;湯本匠，中島達也，赤岩和明，阿部友紀，市野邦男;江上喜幸，工藤聖浩;Hiroyuki Odagawa
  • 通讯作者：
    Hiroyuki Odagawa
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