课题基金 / 基金详情

Nondestructive Measurement Method for Depth Profile of Nonlinear Dielectric Properties and Domain Structure in Piezoelectric Devices

Nondestructive Measurement Method for Depth Profile of Nonlinear Dielectric Properties and Domain Structure in Piezoelectric Devices
压电器件非线性介电特性和畴结构深度剖面的无损测量方法
批准号：
18K04950
负责人：
ODAGAWA HIROYUKI
金额：
$2.83万
依托单位：
National Institute of Technology, Kumamoto College
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2021-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K04950/
关键词：
走査型非線形誘電率顕微法圧電体分極反転ドメイン計測動的ドメイン計測

项目摘要

项目成果

ODAGAWA HIROYUKI的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(5)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Measurement of Polarization-Inverted Structure in Layered Piezoelectric Material Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
使用扫描非线性介电显微镜测量层状压电材料中的极化反转结构
DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka　and Yasuo Cho]
通讯作者： Yohei Tanaka　and Yasuo Cho
Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
使用扫描非线性介电显微镜无损测量双层压电极性反转结构
DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho]
通讯作者： Yasuo Cho
Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip
软探针扫描非线性介电显微镜测量极性反转层状结构深度剖面的方法
DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho]
通讯作者： Yasuo Cho
Application of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for various piezoelectric domain measurement
扫描非线性介电显微镜在各种压电域测量中的应用
DOI： --
发表时间： 2020
期刊：
影响因子： --
作者： [T. Yokoyama, N. Hirata, H. Tsunoyama, T. Eguchi, Y. Negishi, A. Nakajima, Hiroyuki Odagawa]
通讯作者： Hiroyuki Odagawa
Measurement method for polarity-inverted layered piezoelectric thin films using scanning nonlinear dielectric microscopy
海外基金