Improvement of SiO2/SiC interface quality by beam induced interface reactions
Improvement of SiO2/SiC interface quality by beam induced interface reactions
批准号:
25630124
负责人:
WATANABE HEIJI
金额:
$2.58万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2015-03-31
关键词:
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DOI:
10.1063/1.4860987
发表时间:
2014-01-06
期刊:
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子:
4
作者:
[Ikeguchi, Daisuke, Hosoi, Takuji, Watanabe, Heiji]
通讯作者:
Watanabe, Heiji
カソードルミネッセンス法による熱酸化 SiO2 /SiC 構造の評価
阴极发光法评价热氧化SiO2/SiC结构
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[鄭彦宏, Chanthaphan Atthawut, 許恒宇, 楊謙, 劉新宇, 趙艷黎, 李誠譫, 細井卓治, 志村考功, 渡部平司, 福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司]
通讯作者:
福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司
研究室ホームページ
实验室主页
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Implementation of High-k Gate Dielectrics in Silicon Carbide Power MOS Devices
高 k 栅极电介质在碳化硅功率 MOS 器件中的实现
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
--
作者:
[福島悠太, アラン フルカン, 樋口直樹, チャンタパン アタウット, 細井卓治, 志村考功, 渡部平司, 福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司, H. Watanabe]
通讯作者:
H. Watanabe
DOI:
10.4028/www.scientific.net/msf.740-742.741
发表时间:
2013-01
期刊:
Materials Science Forum
影响因子:
--
作者:
[Heiji Watanabe;Daisuke Ikeguchi;Takashi Kirino;Shuhei Mitani;Y. Nakano;Takashi Nakamura;T. Hosoi;T. Shimura]
通讯作者:
Heiji Watanabe;Daisuke Ikeguchi;Takashi Kirino;Shuhei Mitani;Y. Nakano;Takashi Nakamura;T. Hosoi;T. Shimura
共 7 条
Improvement of SiO2/SiC interface properties with beam induced interface reactions and subsequent defect passivation
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批准号:15K13951
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.5万
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财政年份:2015
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负责人:WATANABE HEIJI
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依托单位:
Development of new functional semiconductors by utilizing novel liquid-phase crystallization technique and understanding of their optoelectronic properties
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批准号:25246028
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
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资助金额:$29.54万
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财政年份:2013
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负责人:WATANABE HEIJI
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依托单位:
海外基金