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Improvement of SiO2/SiC interface quality by beam induced interface reactions

Improvement of SiO2/SiC interface quality by beam induced interface reactions
通过束诱导界面反应改善 SiO2/SiC 界面质量
批准号:
25630124
负责人:
WATANABE HEIJI
金额:
$2.58万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2015-03-31

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DOI: 10.1063/1.4860987
发表时间: 2014-01-06
期刊: APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子: 4
作者: [Ikeguchi, Daisuke, Hosoi, Takuji, Watanabe, Heiji]
通讯作者: Watanabe, Heiji
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [鄭彦宏, Chanthaphan Atthawut, 許恒宇, 楊謙, 劉新宇, 趙艷黎, 李誠譫, 細井卓治, 志村考功, 渡部平司, 福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司]
通讯作者: 福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司
研究室ホームページ
实验室主页
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: []
通讯作者:
Implementation of High-k Gate Dielectrics in Silicon Carbide Power MOS Devices
高 k 栅极电介质在碳化硅功率 MOS 器件中的实现
DOI: --
发表时间: 2013
期刊:
影响因子: --
作者: [福島悠太, アラン フルカン, 樋口直樹, チャンタパン アタウット, 細井卓治, 志村考功, 渡部平司, 福島悠太,Furkan Alan,樋口直樹,Atthawut Chanthaphan,細井卓治,志村考功,渡部平司, H. Watanabe]
通讯作者: H. Watanabe
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    Improvement of SiO2/SiC interface properties with beam induced interface reactions and subsequent defect passivation
    • 批准号:
      15K13951
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额:
      $2.5万
    • 财政年份:
      2015
    • 负责人:
      WATANABE HEIJI
    • 依托单位:
    Development of new functional semiconductors by utilizing novel liquid-phase crystallization technique and understanding of their optoelectronic properties
    • 批准号:
      25246028
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
    • 资助金额:
      $29.54万
    • 财政年份:
      2013
    • 负责人:
      WATANABE HEIJI
    • 依托单位:
    海外基金