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IC Test Method Based on Charge Volume Injected from a Power Supply Circuit within a Timing Window

IC Test Method Based on Charge Volume Injected from a Power Supply Circuit within a Timing Window
基于时序窗口内电源电路注入电荷量的IC测试方法
批准号:
15K12002
负责人:
Hashizume Masaki
金额:
$1.83万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2015
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2015-04-01 至 2017-03-31

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A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs
一种用于 CMOS IC 开路缺陷注入电荷测试的内置测试电路
DOI: --
发表时间: 2016
期刊: Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2016
影响因子: --
作者: [Kouhei Ohtani, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume]
通讯作者: Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
DOI: --
发表时间: 2016
期刊: Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2016
影响因子: --
作者: [Kouhei Ohtani, Masaki Hashizume, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu]
通讯作者: Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge
通过注入电荷对 CMOS IC 中的开路缺陷进行电气测试
DOI: --
发表时间: 2015
期刊: Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2015
影响因子: --
作者: [Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume]
通讯作者: Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume
通过注入电荷量进行 3D IC 的电气互连测试方法
DOI: 10.1109/3dic.2015.7334588
发表时间: 2015
期刊: Proc. of IEEE 3D System Integration Conference 2015
影响因子: --
作者: [Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu]
通讯作者: Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
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