Tailoring the dierectric-SiC Interface using a new oxidation procedure with precursors and its application to MOSFETs

使用新的前驱体氧化程序定制介电-SiC 界面及其在 MOSFET 中的应用

基本信息

  • 批准号:
    17K14653
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.75万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(8)
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Mobility limiting mechanisms in p-channel 4H-SiC MOSFETs investigated by Hall-effect measurements
通过霍尔效应测量研究 p 沟道 4H-SiC MOSFET 中的迁移率限制机制
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    X. Zhou;D. Okamoto;T. Hatakeyama;M. Sometani;S. Harada;X. Zhang;N. Iwamuro;and H. Yano
  • 通讯作者:
    and H. Yano
Accurate Channel Mobility Extraction and Scattering Mechanisms in 4H-SiC p-Channel MOSFETs
4H-SiC p 沟道 MOSFET 中精确的沟道迁移率提取和散射机制
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Xingyan Zhou;Dai Okamoto;Xufang Zhang;Mitsuru Sometani;Mitsuo Okamoto;Shinsuke Harada;Noriyuki Iwamuro;Hirosi Yano
  • 通讯作者:
    Hirosi Yano
SiC pチャネルMOSFETの正孔輸送機構の解析
SiC p沟道MOSFET空穴传输机理分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    岡本大;周星炎;張旭芳;染谷満;岡本光央;畠山哲夫;原田信介;岩室憲幸;矢野裕司
  • 通讯作者:
    矢野裕司
On-the-flyチャージポンピング法によるSiC MOSFET 負バイアスストレス時の界面トラップ生成解析
使用动态电荷泵方法对 SiC MOSFET 负偏压期间的界面陷阱生成进行分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    岡本 大;染谷 満;坂田 大輝;張 旭芳;松谷 優汰;畠山 哲夫;岡本 光央;原田 信介;矢野 裕司;岩室 憲幸
  • 通讯作者:
    岩室 憲幸
高速緩和なし法によるpチャネル4H-SiC MOSFETのしきい値電圧変動評価
使用快速无松弛法评估p沟道4H-SiC MOSFET的阈值电压波动
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    坂田大輝;岡本大;染谷満;岡本光央;原田信介;畠山哲夫;根本宏樹;張旭芳;岩室憲幸;矢野裕司
  • 通讯作者:
    矢野裕司
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Accurate determination of threshold voltage shift during negative gate bias stress in 4H-SiC MOSFETs by fast on-the-fly method
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  • 通讯作者:
    Iwamuro Noriyuki
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  • DOI:
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  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.2
  • 作者:
    Hatakeyama Tetsuo;Hirai Hirohisa;Sometani Mitsuru;Okamoto Dai;Okamoto Mitsuo;Harada Shinsuke
  • 通讯作者:
    Harada Shinsuke
Conduction mechanisms of oxide leakage current in p-channel 4H-SiC MOSFETs
p 沟道 4H-SiC MOSFET 氧化物漏电流的传导机制
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/ab7ddb
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Nemoto Hiroki;Okamoto Dai;Zhang Xufang;Sometani Mitsuru;Okamoto Mitsuo;Hatakeyama Tetsuo;Harada Shinsuke;Iwamuro Noriyuki;Yano Hiroshi
  • 通讯作者:
    Yano Hiroshi

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    2021
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    2018
  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
点欠陥・界面準位の低減による超高性能炭化珪素バイポーラトランジスタの実現
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  • 批准号:
    13J06044
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    2013
  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
炭化珪素半導体の高電界物性の解明と超高耐圧パワーデバイスへの応用
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  • 批准号:
    13J06049
  • 财政年份:
    2013
  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
高移動度側壁チャネルの活用による高性能・低損失炭化珪素MOSデバイスの作製
利用高迁移率侧壁沟道制造高性能、低损耗碳化硅MOS器件
  • 批准号:
    10J03889
  • 财政年份:
    2010
  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
超低損失電力素子実現に向けた炭化珪素における点欠陥の物性解明と制御法の確立
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  • 批准号:
    10J05621
  • 财政年份:
    2010
  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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知道了