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Grundlagen für die in situ Charakterisierung von Gruppe-IV- Halbleitergrenzflächen mittels nichtlinear-optischer Spektroskopie

Grundlagen für die in situ Charakterisierung von Gruppe-IV- Halbleitergrenzflächen mittels nichtlinear-optischer Spektroskopie
使用非线性光谱法原位表征 IV 族半导体界面的基础知识
批准号：
5277042
负责人：
Professor Dr. Heinrich Kurz (†)
金额：
$0.0万
依托单位：
AMO GmbH - Gesellschaft für Angewandte Mikro- und Optoelektronik mbH
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
1996
资助国家：
德国
项目状态：
已结题
起止时间：
1995-12-31 至 2000-12-31
来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5277042?language=en
关键词：
GrundlagendiesituCharakterisierungvon

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  • 批准号：
    49086644
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2007
  • 负责人：
    Professor Dr. Heinrich Kurz (†)
  • 依托单位：
    Institut für Halbleitertechnik (IHT)
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  • 批准号：
    5446713
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    Professor Dr. Heinrich Kurz (†)
  • 依托单位：
    Forschungszentrum Jülich
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