Charakterisierung von metallischen Schichten auf Mikrogießwerkzeugen aus Keramik mit Hilfe der photothermischen Wärmewellenanalyse

使用光热热波分析表征陶瓷微型工具上的金属层

• 批准号: 5283414
• 负责人: Professor Dr.-Ing. Horst-Artur Crostack
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Qualitätswesen (LQW) (aufgelöst)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2000
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1999-12-31 至 2004-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5283414?language=en
• 关键词: Charakterisierung; von; metallischen; Schichten; auf

...Das Ziel dieses Forschungsprojekts besteht deshalb darin, ein geeignetes Verfahren zur flächenhaften Prüfung dieser Schichten bereitzustellen. Unter den gegebenen Bedingungen von metallischen Schichten mit Dicken zwischen 1 und 15µ auf keramischen Grundkörpern, die von ca. 100µm breiten und 100µm tiefen Einkerbungen mit steilen Wänden durchzogen sind, erscheint das Verfahren der photothermischen Wärmewellenanalyse als am besten geeignet. In einer ersten Projektphase soll die photothermische Wärmewellenanalyse zunächst so modifiziert und an die Prüfaufgabe angepaßt werden, daß eine Messung in unterschiedlichen Ebenen (Höhenunterschied ca. 100 µm) und an vertikalen Wänden möglich ist. Für die zweite Phase des Projekts sind Messungen an Gießwerkzeugen vorgesehen, die unter unterschiedlichen Bedingungen beschichtet worden (Optimierung der Beschichtungsparameter) bzw. mehrfach in Gebrauch gewesen sind (Analyse lebensdauerbestimmender Faktoren). Zusätzlich sollen die Rasterelektronen- und Rasterkraftmikroskopie zum Einsatz kommen, um weitere die Befunde mit Merkmalen und Fehlern der Schicht an der Oberfläche zu korrelieren.

...这两个研究项目最好是在那里进行，一个工程师可以在那里进行快速的测试。Unter den gegebenen Bedingungen von metallischen Schichten mit Dumzwischen 1 und 15µ auf keramischen Grundkörpern，die von ca. 100µm breiten和100µm tiefen Einkerbungen mit steilen Wänden durchzogen sind，erscheint das Verfahren der photothermischen Wärmewellenanalysis als am besten geegnet.在一个第一个项目阶段，soll die photothermische Wärmewellenanalysis zunächst so modifiziert und an die Prüfaufgabe angepaßt韦尔登，daubeine Messung in untermedlichen Ebenen（Höhenunterschied ca. 100 µm）and an vertikalen Wänden möglich ist.对于项目的第二阶段，需要对项目的最佳参数进行优化，即沃登。mehrfach in Gebrauch gewesen sind（分析生活方式）。因此，我们需要将光栅传感器和光栅传感器用于电子设备，然后再将传感器和传感器与上翼板的传感器进行比较。