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アコースティッククロマトグラフィー

声波色谱法

基本信息

批准号：
11874106
负责人：
岡田哲男
金额：
$ 1.28万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份：
1999
资助国家：
日本
起止时间：
1999 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-11874106/
关键词：
音場クロマトグラフィーイオン粒子超音波

项目摘要

超音波の液体クロマトグラフ過程への影響をイオン交換、ポリエーテルのイオン交換樹脂対イオンとの錯形成を利用することにより評価した。通常のイオン交換では、溶媒和の強いイオンの親和性が相対的に強まり、逆に溶媒和の弱いイオンの親和性が弱まる傾向が見られた。その結果、混合移動相系ではイオン交換平衡が影響され、nmol程度の吸着量変化が見られることがわかった。しかし、超音波の照射は温度上昇を招き、観察された結果が温度上昇によるものと区別することが困難であった。これを克服するために、より温度変化に敏感でかつ温度による影響が定量的に評価されているポリエーテルとカリウムイオンのイオン交換樹脂中での錯形成をプローブとした。その結果、ポリエーテルの錯形成は投入した音のエネルギーに比例して変化すること、静電的相互作用が関与しない系では音場の影響はほとんど見られず温度上昇による効果で説明できること、ポリエーテル分子によって音場感受性に差があることなどが明らかになった。また、音場を分離エネルギーとして用いる粒子の分離を検討し、500kHzの超音波を照射することで粒子を分離できる装置を設計した。本装置では、石英製セル内に約1.5mmの流路をつくり、その中心に音場の節を形成させることができる。この装置を用いることで、音場の節に粒子を節に集合させ得ること、対抗場を利用することにより粒子の表面状態を反映した平衡位置に粒子を誘導でき得ることを明らかにした。本装置によって一粒子の表面状態を知ることができるものと期待できる。問題点として、顕微鏡による観察には焦点距離などに限界があり、デジタル方式の観察が必要であることが指摘できる。

The influence of ultrasonic wave on the process of liquid crystal exchange is evaluated. Generally, the affinity of the solvent and the strong solvent is opposite to each other, and the affinity of the solvent and the weak solvent is weak. As a result, the mixed mobile phase system is affected by the exchange equilibrium, and the adsorption amount of nmol is changed. It is difficult to distinguish the temperature rise caused by ultrasonic irradiation. This is to overcome the temperature sensitivity, temperature sensitivity and quantitative evaluation of the formation of errors in the exchange resin. As a result, the formation of errors in the input sound is proportional to the change in the electrostatic interaction system, and the influence of the sound field is explained by the increase in the temperature of the molecules. The separation of particles by ultrasonic irradiation at 500kHz The device is made of quartz and has a flow path of about 1.5mm. The sound field section in the center is formed. The device is used to measure the particle size and shape. The device is capable of detecting the surface state of a particle. The focus distance of the microscope is limited, and the mode of observation is necessary.