電子線と粒子線の組み合わせによるナノ構造作製と物性評価
電子線と粒子線の組み合わせによるナノ構造作製と物性評価
批准号:
17710120
负责人:
三石 和貴
金额:
$2.3万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2005
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2005 至 2007
中文摘要
基板上に原料となる金属などの物質を含むガスを流し、そこに収束した粒子線や電子線を照射することでビームを当てた所にのみ局所的に所望の物質を蒸着する手法を収束イオンビーム化学気相成長(FIB-CVD)または、電子線誘起蒸着(EBID)という。 これらの手法は既にいくつかのグループによって研究されており、リソグラフィーで用いられるマスクの局所的な補修や、電界放射銃のチップへの応用の試みなどがなされている。しかし、この手法によってナノ構造を作製するには、電子線によって分解し、かつ適度な蒸気圧を持つ原料ガスが必要であり、任意の物質によってナノ構造を作製することは困難である。本研においては、粒子線による研磨と組みあわせることで、電子線誘起蒸着では適切な原料ガスが存在しないために作製困難な物質によるナノ構造作製を目的とする。 具体的には、基板に対して作製したい形状を電子線誘起蒸着によってナノマスクとして蒸着し、それを粒子線により研磨することで、あらゆる物質での名の構造の作成をこれまでにないサイズで実現する。平成19年度は、ヘテロ構造をもった基板に対して本手法を用いることで微小サイズの2重障壁共鳴トンネルダイオード構造(DB-RTD)を作製し、AFMによってその伝導特性を評価した。基板はGaAs(100)に対して、MBEでAlAs層を作製し、7nmのGaAs井戸と、13MLのAlAsバリアを作製した。得られた構造のサイズは、最小で約50nmであった。 得られた構造に対して、AFMを用いてI-V特性を測定した結果、DB-RTDに特徴的な非線形な振る舞いが観察され、本手法を用いたナノ構造作製が、ナノデバイス作製にも有効であることが示された。
英文摘要
基板上に原料となる金属などの物質を含むガスを流し、そこに収束した粒子線や電子線を照射することでビームを当てた所にのみ局所的に所望の物質を蒸着する手法を収束イオンビーム化学気相成長(FIB-CVD)または、電子線誘起蒸着(EBID)という。 これらの手法は既にいくつかのグループによって研究されており、リソグラフィーで用いられるマスクの局所的な補修や、電界放射銃のチップへの応用の試みなどがなされている。しかし、この手法によってナノ構造を作製するには、電子線によって分解し、かつ適度な蒸気圧を持つ原料ガスが必要であり、任意の物質によってナノ構造を作製することは困難である。本研においては、粒子線による研磨と組みあわせることで、電子線誘起蒸着では適切な原料ガスが存在しないために作製困難な物質によるナノ構造作製を目的とする。 具体的には、基板に対して作製したい形状を電子線誘起蒸着によってナノマスクとして蒸着し、それを粒子線により研磨することで、あらゆる物質での名の構造の作成をこれまでにないサイズで実現する。平成19年度は、ヘテロ構造をもった基板に対して本手法を用いることで微小サイズの2重障壁共鳴トンネルダイオード構造(DB-RTD)を作製し、AFMによってその伝導特性を評価した。基板はGaAs(100)に対して、MBEでAlAs層を作製し、7nmのGaAs井戸と、13MLのAlAsバリアを作製した。得られた構造のサイズは、最小で約50nmであった。 得られた構造に対して、AFMを用いてI-V特性を測定した結果、DB-RTDに特徴的な非線形な振る舞いが観察され、本手法を用いたナノ構造作製が、ナノデバイス作製にも有効であることが示された。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
共焦点走査型透過電子顕微鏡像の結像特性の検討
共焦扫描透射电子显微镜图像的成像特征检查
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
[三石和貴, 竹口雅樹, 下条雅幸, 橋本綾子, 古屋一夫]
通讯作者:
古屋一夫
Nano-fabrication using electron-beam-induced deposition combined with low energy ion milling
使用电子束诱导沉积与低能离子铣削相结合的纳米制造
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS B 242
影响因子:
--
作者:
[三石和貴, 下条雅幸, 田中美代子, 古屋一夫]
通讯作者:
古屋一夫
TEM sample preparation using a new nanofabrication technique combining electron-beam-induced deposition and low-energy ion milling
使用结合电子束诱导沉积和低能离子铣削的新型纳米加工技术制备 TEM 样品
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12
影响因子:
--
作者:
[三石和貴, 下条雅幸, 竹口雅樹, 宋明暉, 古屋一夫]
通讯作者:
古屋一夫
Nanofabrication: Fundamentals and Applications 第7章
纳米加工:基础知识和应用第 7 章
DOI:
--
发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
--
作者:
[三石和貴, 竹口雅樹, 下条雅幸, 田中美代子, 古屋一夫, 三石和貴]
通讯作者:
三石和貴
Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope
用于扫描透射电子显微镜的超高真空三阶球差 (Cs) 校正器
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12
影响因子:
--
作者:
[三石和貴, 竹口雅樹, 近藤行人, 細川史夫, 三宮工, 古屋一夫]
通讯作者:
古屋一夫
共 12 条
正則化を取り入れた電子線タイコグラフィー位相回復法の開発と材料応用
-
批准号:24K15598
-
项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
-
资助金额:$2.75万
-
财政年份:2024
-
负责人:三石 和貴
-
依托单位:
電子線タイコグラフィーにおける多重散乱の効果を含めた位相再生法の開発
-
批准号:21K04890
-
项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
-
资助金额:$2.41万
-
财政年份:2021
-
负责人:三石 和貴
-
依托单位:
海外基金