High growth-rate hydride-vapor-phase of aluminum nitride

氮化铝的高生长速率氢化物气相

基本信息

  • 批准号:
    21560014
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2009
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2009 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

AlN is an attractive substrate for short-wavelength optoelectronics devices based on AlGaN. For growth of AlN and AlGaN, lateral overgrowth using a patterned substrate is useful for control of dislocation penetration, because selective-area growth with masks, such as SiO2, cannot be applied. In this study, thick AlN films were grown by HVPE on AlN/sapphire stripe patterned seeds with triangular shape in cross section, and the TDs density on the surface of HVPE-grown films was reduced one order of magnitude from a AlN film without pattern seeds. We also have investigated threading dislocations(TDs) in epitaxial AlN films by etch-pit method. Epitaxial AlN films were etched by mixed acid solution(KOH+ NaOH). The etch-pits were classified into TD groups by those sizes.
氮化铝是一种有吸引力的短波长光电子器件的AlGaN基片。对于AlN和AlGaN的生长,使用图案化衬底的横向过生长对于控制位错渗透是有用的,因为不能应用利用掩模(例如SiO2)的选择性区域生长。在本研究中,通过HVPE生长厚AlN薄膜上的AlN/蓝宝石条纹图案化的种子具有三角形的横截面,和HVPE生长的薄膜的表面上的TDs的密度降低了一个数量级的AlN薄膜没有图案的种子。我们还用腐蚀坑法研究了外延AlN薄膜中的穿透位错。采用混合酸溶液(KOH+ NaOH)腐蚀AlN外延膜。根据这些尺寸将蚀刻坑分为TD组。

项目成果

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专利数量(0)
Control of AlN buffer/sapphire substrate interface for AlN growth
  • DOI:
    10.1002/pssc.201001186
  • 发表时间:
    2011-07
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Reina Miyagawa;Shibo Yang;H. Miyake;K. Hiramatsu
  • 通讯作者:
    Reina Miyagawa;Shibo Yang;H. Miyake;K. Hiramatsu
Fabrication of Deep-Ultraviolet-Light-Source Tube Using Si-Doped AlGaN
  • DOI:
    10.1143/apex.4.042103
  • 发表时间:
    2011-03
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.3
  • 作者:
    Yuki Shimahara;H. Miyake;K. Hiramatsu;F. Fukuyo;Tomoyuki Okada;Hidetsugu Takaoka;H. Yoshida
  • 通讯作者:
    Yuki Shimahara;H. Miyake;K. Hiramatsu;F. Fukuyo;Tomoyuki Okada;Hidetsugu Takaoka;H. Yoshida
Deep-Ultraviolet Emission Si-doped AlGaN Excited by Electron Beam
电子束激发深紫外发射硅掺杂AlGaN
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    H. Miyake;Y. Shimahara;S. Ochiai;K. Hiramatsu;F. Fukuyo;T. Okada;H. Takaoka and H. Yoshida
  • 通讯作者:
    H. Takaoka and H. Yoshida
減圧HVPE法による周期溝加工AlN/サファイア上へのELO-AlN
使用低压 HVPE 方法在蓝宝石上定期加工 AlN/ELO-AlN
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    藤田浩平;三宅秀人;平松和政;乗松潤;平山秀樹
  • 通讯作者:
    平山秀樹
サファイア上へのAlN成長における界面層の評価
蓝宝石上 AlN 生长界面层的评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    宮川鈴衣奈;三宅秀人;平松和政
  • 通讯作者:
    平松和政
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

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  • 资助金额:
    $ 3.08万
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