Design Methods for Crypto LSI Implementations and Testing

加密 LSI 实现和测试的设计方法

• 批准号: 21560370
• 负责人: YANAGISAWA Masao
• 金额: $ 3万
• 依托单位: Waseda University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21560370/
• 关键词: LSI設計; テスト容易化設計; スキャンチェイン; 暗号処理LSI; スキャンベース攻撃; SD-SFF

Scan test has been widely adopted as a default testing technique among most LSI designs, including crypto cores. However, these scan chains might be used as a "side channel" to recover the secret keys from the hardware implementations of cryptographic algorithms. In this research, we propose SD-SFF(State Dependent Scan Flip Flop) which significantly improves the security with ignorable design requirements for crypto hardware implementations.

扫描测试已被广泛采用作为大多数大规模集成电路设计的默认测试技术，包括密码核心。然而，这些扫描链可能被用作“侧通道”，以从加密算法的硬件实现中恢复密钥。在这项研究中，我们提出了SD-SFF（状态相关扫描触发器），它显着提高了安全性与加密硬件实现的可扩展设计要求。

项目成果

A Scan-Based Attack Based on Discriminators for AES Cryptosystems

• DOI: 10.1587/transfun.e92.a.3229
• 发表时间: 2009-12
• 期刊: IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci.
• 作者: Ryuta Nara;N. Togawa;M. Yanagisawa;T. Ohtsuki

楕円曲線暗号に対するスキャンベース攻撃

对椭圆曲线密码学的基于扫描的攻击

• 发表时间: 2009
• 作者: 奈良竜太;戸川望;柳澤政生;大附辰夫
• 通讯作者: 大附辰夫

スキャンシグネチャを利用したTriple DESに対するスキャンベース攻撃の実装実験

利用扫描签名对Triple DES进行扫描攻击的实现实验

• 发表时间: 2012
• 作者: 小寺博和;柳澤政生;戸川望
• 通讯作者: 戸川望

RSA暗号に対するスキャンベース攻撃

针对 RSA 加密的基于扫描的攻击

• 发表时间: 2010
• 作者: 奈良竜太;佐藤圭;戸川望;柳澤政生;大附辰夫
• 通讯作者: 大附辰夫

Scan vulnerability in elliptic curve cryptosystems

扫描椭圆曲线密码系统中的漏洞

• 发表时间: 2011
• 期刊: IPSJ Trans. on System LSI Design Methodology
• 作者: Ryuta Nara;Nozomu Togawa;Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki
• 通讯作者: Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki