Test de très haute qualité et diagnostic de circuits intégrés à l'échelle nanométrique

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Cette proposition de recherche s'intéresse principalement aux défis que représentent le test et le diagnostic de haute qualité des CI à l'échelle nanométrique. L'intégration à cette échelle amène de nouveaux défis à tous les niveaux, y compris le test et le diagnostic, qui nous obligent à réévaluer et revoir les techniques existantes afin de maintenir la qualité actuelle. Pour certaines applications plus critiques (ex. l'automobile et le biomédical), le niveau de qualité exigé est davantage élevé. C'est la raison de notre intérêt pour le test et le diagnostic de haute qualité, ce qui nécessite davantage d'optimisation afin de garder les coûts du test/diagnostic à des niveaux acceptables. De plus, la tendance actuelle au niveau du coût de la fabrication et du taux de succès de la première tentative d'intégration (qui est inférieure à 40% selon [3]) devrait éventuellement rendre plus populaire l'utilisation de plateformes génériques contenant des matrices de logiques programmables, telles celles que l'on retrouve dans les circuits de type FPGA. Ceci explique notre intérêt, à moyen et long terme, pour ce genre de circuits. La présente demande contient deux volets :